Fe掺杂引起光催化二氧化钛薄膜结构效应地正电子研究.pdfVIP

Fe掺杂引起光催化二氧化钛薄膜结构效应的 正电子研究 张丽娟1) 王力海2) 李强1) 刘建党1) 成斌1) 安然1)赵明磊2) 叶邦角(+)1) 1)中国科学技术大学近代物理系，合肥，230026 2)山东大学物理学院，晶体材料国家重点实验室，济南，250100 摘要：采用固相反应法制备了BaTiO3多晶陶瓷样品，利用正电子湮灭技术、结合XRD结构分析 和HP4294A阻抗分析仪的介电特性分析，对BaTiO3多晶陶瓷烧结过程进行了研究，给出了烧结 温度、烧结时间对BaTiO3多晶陶瓷结晶度、结构缺陷和介电特性的影响。实验结果表明：随着 烧结温度的提高和烧结时间的延长，BaTiO3陶瓷样品的微观缺陷发生了小尺寸缺陷的聚集，同 时BaTiO3内部应力能的释放使得更大尺寸的缺陷 （空位团、微空洞等）发生解体。正电子平均 寿命与介电特性的匹配反应了微观缺陷引起空间电荷限制流分布对宏观介电特性的影响，介电 性能的变化完全可以在空间电荷限制流的框架下理解。 关键词：正电子寿命谱 ; 钛酸钡陶瓷 ;烧结过程 ;微观缺陷 ;介电特性 晶全部由山东大 ！ Irl__…．，．．L上t—r-rtt—r一 f相万忻，共衍射1