红外材料低温折射率测定不确定度分析.pdfVIP

第37卷第 10期 光电工程 Vb1_37．NO．10 2010年 l0月 Opto—ElectronicEngineering Oct．201O 文章编号：1003—501X(2010)10—0077—06 红外材料低温折射率测定：不确定度分析 倪 磊 一，任栖锋 ，廖 胜 (1．中国科学院光电技术研究所 ，成都 610209； 2．中国科学院研究生院 ，北京 100039) 摘要：文章从常见的折射率测定方法入手，分析了最小偏向角法和垂直入射法的误差灵敏度和合成不确定度，得 出在相同顶角和偏向角的情况下最小偏向角法测量的不确定度约为垂直入射法 1／2的结论。同时，分析了折射率 测定时光源带宽引起的色散对测量精度的影响，利用Herzberger色散方程估计了ZnSe的色散情况，获得 了在 5～10 gm波段的色散约为5x104 “m～，从而确定了折射率测量的光源带宽需小于20nil1的要求。本文从误差控制角度 出发，对比了最小偏向角法和垂直入射法的精度，为我们红外材料低温折射率测量的下一步_Y-作奠定了基础。 关键词：低温光学；折射率测量；最小偏向角法；垂直入射法；不确定度 中图分类号：TN213 文献标志码：A doi：10．3969~．issn．1003—501X．2010．10．013 M easurementofCryogenicRefractiveIndexof IR M aterials：UncertaintyAnalysis ． NILei，一 feng o Sheng ， RENQi． ，LIA (1．InstituteofOpticsandElectronics，ChineseAcademicofScience，Chnegdu610209，China； 2．GraduateUniversityofChineseAcademicofScience，Bejiing100039，China) Abstract：Basedoncommonmeasurementsofrefraction，itisfoundthattheprecisionofminimum deviationconditionis beRerthanthatofverticalincidencecondition according to ouranalysisofthesensitivityanduncertainty ofthem． Analysisshowsthatforthesamedeviationandapexangle，theuncertaintyoftheminimum deviationmethodisonly1／2 oftheuncertaintyoftheverticalincidencemethod．Anotherfactorwhichwouldalsoeffectsuncertainyt isthebandwidth ofopticalsource．From analyzingdispersionofZnSebyHerzbergerdispersionequation，itisfoundthatthedispersionof ZnSeatthewavelengthof5~10I．tm isapproximately5x10 pm 。。．Foragivenaccurac