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开关电源磁性元件损耗、温升与绝缘研究 ：日 开关电源磁性元件损耗、皿升与绝缘研究 顾公兵李网生 沈坚南京电子技术研究所(南京310013) 摘要：通过对磁性元件的损耗分析，构建了总损耗模型，该模型的磁芯损耗考虑了波形因素，铜损耗考虑了高频率对损耗的影响，用交流电 阻损耗代替直流损耗，使得总损耗计算值更接近实际。对该模型求解极值，推导了最小损耗时的磁通密度与线圈匝数计算方法。通过对损 耗、温升与绝缘关系的讨论，提出了提高磁芯元件功率密度设计方法。 叙词：开关电源磁性元件损耗温升绝缘 1 引言 芯损耗递减，而导线铜损耗递增。研究表明[“，当P。一P。时，总 磁性元件——变压器、谐振电感、阻流圈等占据了开关电源 损耗P最小。但是，文献E83对该结论有质疑。由于引发损耗的 的大部分重量和体积，提高磁性元件的功率密度是开关电源设 原因复杂，损耗的数学模型复杂且不够精确，实践中，很难找准 计不断追求的目标。在追求磁性元件的功率密度的同时，不可 最优工作点，但是，接近这个理想的工作点