Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟.pdfVIP

Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟 赵维魏存峰唐晓孙翠丽曹学香舒航史戎坚魏龙· (中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室，北京，100049) (北京市射线成像技术与装备jIi稃技术研究中心，北京，100049) 摘要：Compton背散射成像技术由于其独特的优势J“泛廊用丁无损检测领域。本文利JHj蒙特卡洛 器的参数、探测器采集角度对系统信号的影响、以及系统的探测深度等。此外，我们模拟了光谱 的衰减特性并与实验结果相比较，证明了蒙特卡洛模拟方法是有效的，该方法可用于背散射探测 系统设计及优化。 Gate 关键词：Compton背散射蒙特卡洛模拟Geant4 MontecaxlosimulationofaComptonbackscatteringimagingsystem is usedinnon—destructive has Abstract：Comptonbackscatteringwidely testing(NDT)．It an