基于数字平板探测器的工业DR无损检测系统.pdfVIP

全国第四届核仪器及其应用学术会议论文集 Instrument＆Its ConferenceonNuclear ofthe4thNational Application Proceedings 基于数字平板探测器的工业DR无损检测系统 肖永顺，陈志强，张丽，黄志峰，康克军 (清华大学工程物理系，北京100084) 摘要：介绍了一种基于数字平板面阵列探测器和高能x射线的工业数字辐射成像无损检测系统。该系统采用 电子直线加速器作为高能射线源，被检测工件放置于卧式转台上旋转，采用数字平板面阵探测器获取工件的数字透 视图像，通过图像处理计算机检测工件内部缺陷。系统能提供准实时的动态DR成像和高清晰度的数字照相，并提 供胶片照相的功能，具有很好的应用前景。 关键词：数字平板探测器；数字辐射成像；无损检测 0引言 测的要求，我们以高能x射线直线加速器为射 关键零部件的质量检验在现代化工业生产 线源，研制采用先进数字平板x射线探测器的 中是非常重要的环节，x射线检测作为一种常 工业数字辐射成像(DR)系统。 规无损检测方法已经有多年的应用历史。在工 业生产领域采用的x射线成像系统大多采用x 1系统框架结构 光机或者同位素源，检测工件的尺寸受到射线 基于数字平板探测器的工业DR无损检测 源能量的限制，检测厚度为几～lOcm。大多数系统的构成如图1所示，由电子直线加速器射 成像系统采用胶片或者闪烁屏一图像增强器获 线源、卧式数控转台、数字平板探测器、同步触 取辐射图像，在检测速度和图像质量方面并不 发模块、系统控制与图像检查系统组成。 理想。 随着微电子技术和材料科学的发展，数字 Flat—Panel 平板x射线探测器(Digital X—Ray Detector简称FPD)，成为近年来新兴的X射线 成像器件。FPD具有很高的空间分辨率和动 态范围，同时提供快速的数字图像获取手段。 电子直线加速器能提供高能x射线源，能检测 等效钢厚度大于lOOmm的大型工业构件；同时 加速器以脉冲方式工作，占空比不到0．1％，在 平均剂量率与60C。源相当的条件下，瞬时剂量 图1系统构成原理图 比60c0源要高三个数量级以上，对提高信号噪 在系统中，x射线源采用9MeV的电子直 声比和图像质量具有决定作用uJ。采用高能x 线加速器。剂量率为3000cGy／min。 射线直线加速器为射线源，数字平板x射线探 高能数字平板探测器有效探测尺寸为17 测器为成像器件的数字射线成像系统，能满足 9cm×23．8cm，图像尺寸为1536×1920，采用 对厚度较大的工件进行高速、高质量的辐射成 12bit的A／D转换，极限分辨率可达3．94lp／ 像无损检测的要求，在无损检测中具有很好的 mm。为了保护数字平板探测器的电子学线路 应用前景。 不受高能x射线的直接照射，并减少环境散射 为了满足高速、高质量的辐射成像无损检 对成像质量的影响，整个成像屏放置于开窗的 ·200· 铅屏蔽盒中。 件开发的关键技术。 卧式数控扫描转台加载并驱动工件进行旋 转运动，加速器与成像屏通过行车控制进行左 2系统功能和工作过程 右平移。可以完成对工件不同部位的检查。 系统通过高档PC工作站集成了成像控制 由于数字平板探测器的成像特性。在加速 与图像检查功能，利用加速器产生的高能x射 器脉冲工作模式下，对脉冲x射线的出束时间 线，既提供传