光谱测试系统(透射、反射、吸收、荧光、PL、拉曼、紫外可见红外).pdfVIP

光谱仪器 ：光谱测试系统 Spectral Measurement Systems 光谱测试系统 Spectral Measurement System 器 仪 谱 光 Total Solution 我们致力于为您提供完备的光谱测量解决方案 一、LE-SP-ES 发射光谱／光源测量系统 Emission Spectra and Light Source Measurement System 应用范围 器 光 激 和 源 光 □ 测试各种发光体，如激光器、等离子体、白炽灯、荧光灯、LED、原子发射、红外光源等的发射光谱分布。 主要规格及特色 □ 测试光谱范围：0.2~21um (范围根据配置选择) □ 系统由分光部分、探测部分、数据采集处理部分和软件构成 □ 可升级测试辐射通量、光通量、色坐标等 □ 全自动扫描测量 分光辐射度计 Spectroradiometer 品 产 机 光 应用范围 □ LED、灯、光纤输出等辐射源和呈色特性量测； 主要规格及特色 □ 波长准确度：±0.5nm; □ 特色：追溯NIST标准，符合各式光源量测应用； 台 平 学 光 □ 检测内容：光通量、色度、CIE色度坐标； □ 光谱范围：380-780nm； □ 光通量范围：1–4000lm； □ 准确度：±0.002x,y(@2.856k); □ 重复性：±0.005x,y; □ CCT重复性：±20k(@2.856k) 件 元 学 光 二 、LE-SP-ART 吸收、反射/透射光谱测量系统Absorption,ReflectionTransmission System 应用范围 □ 测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等）、球面光学元件（凹面镜、凸面镜等）和各种材料（溶液、 光 电 玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等）的吸收、透射/反射光谱。 主要规格及特色 测 探 □ 光谱范围： 380~1000nm/600~1200nm （最低200nm，最高 3000nm，可选） □ 波长分辩率： 0.03nm~10nm （由所选波长范围确定） 理 处 号 信 弱 □ 测试系统高集成度，全自动化的测量 □ 两种专用系统可选，分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试 □ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱，样品角度位移范围：2.5~357.5°，最小角位移：0.01° □ 测量最大相对误差：1