上线碱槽剥膜参数DOE分析.docVIP

I8000 上线碱槽剥膜参数DOE分析 一、实验目的 针对碱槽剥膜的不良，研究分析影响剥膜不良的各种因子，首先通过第一阶段实验找出影响碱槽剥膜不良的显著因子，再通过第二阶段实验去寻找最优参数组合。 二、因子筛选 1、碱槽剥膜原理介绍 碱槽剥膜为ITO触摸屏制作的关键步骤。针对I8000这个机种的上线为日东双层FILM材料（1220-2L-V270-TFME-340），它的碱溶液配置成分为NaOH (氢氧化钠) : H2O (纯水)，按照1：24的比率配制。碱槽的主要目的是利用碱溶液将FILM上印刷的耐酸剥掉，保留导电膜ITO。 2、因子选择 根据以往不良记录，产生的碱槽剥膜不良现象的原因有：耐酸厚度过大或偏小，传动速度太快或太慢，碱溶液的浓度过大过过小，喷压过大或过小，溶液温度过高或过低，材料放进蚀刻槽时操作不当等。 以上不良中，材料放进蚀刻槽时操作不当,机器稳定性；这些是人员或机器的原因，因此在第一阶段实验可以忽略这些项目不良。同时，耐酸的印刷厚度要求为8~12m。 在第一阶段实验只考虑以下5个因子：速度，碱液浓度，温度，碱槽喷压和耐酸厚度。 三、第一阶段实验设计 1、因子水平对照表 1 2 交互作用 A 碱槽速度（m/min） 2.5 B 碱液浓度（mol/L） 0.6 C 溶液温度（℃） 25.0 35.0 D 碱槽喷压（kg/cm ） F 耐酸厚度/ 8.0 12.0 2、找显著因子 每个实验号做50次实验，用L(2)统计实验结果如下： 1 2 3 4 5 产量XK A B C D F 1 1 1 1 1 1 27 2 1 1 1 2 2 31 3 1 2 2 1 1 38 4 1 2 2 2 2 40 5 2 1 2 1 2 40 6 2 1 2 2 1 42 7 2 2 1 1 2 43 8 2 2 1 2 1 46 K1 136 140 147 148 153 总产量307 K2 171 167 160 159 154 Q 35 27 13 11 1 此得出： S=153.125，S=91.125，S=21.125，S=15.125，S=0.125 计算总离差平方和： Q=12063.00，S=281.88，S=1.25 3、整理成方差分析表如下： 方差来源 离差平方和 自由度 平均离差平方和 F值 临界值 显著性 贡献率 A 153.125 1 153.125 367.500 F(1,3)= 34.12 ** 54.32% B 91.125 1 91.125 218.700 ** 32.33% C 21.125 1 21.125 50.700 ** 7.49% D 15.125 1 15.125 36.300 ** 5.37% F 0.125 1 0.125 0.300 0.04% 误差 1.250 3 0.417 　 　 　 0.44% 总和 281.875 8 　 　 　 　 100% 4、第一阶段实验结论 由前面可以得出A，B，C，D为显著因子，它们总贡献率为99.51%，F为隐性因子。 四、第二阶段实验设计 为了找出最佳的参数组合，故将第一阶段实验找出的显著因子A、B、C、D再进行第二阶段实验，每个因子拟3个水平，每个实验号做50次实验，实验结果如下： 因子水平对照表 1 2 3 交互作用 A 碱槽速度（m/min） 2.4 2.8 　 B 碱液浓度（mol/L） 0.4 0.6 　 C 溶液温度（℃） D 碱槽喷压（kg/cm ） 点线图 用L(3)统计实验结果如下： 1 2 3 4 5 6 7 8 9 11 产量XK A B (A*B)1 (A*B)2 C (A*C)1 (A*C)2 (B*C)1 D (B*C)2 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 15 2 1 1 1 1 2 2 2 2 2 2 20 3 1 1 1 1 3 3 3 3 3 3 31 4 1 2 2 2 1 1 1 2 2 3 23 5 1 2 2 2 2 2 2 3 3 1 28 6 1 2 2 2 3 3 3 1 1 2 30 7 1 3 3 3 1 1 1 3 3 2 31 8 1 3 3 3 2 2 2 1 1 3 28 9 1 3 3 3 3 3 3 2 2 1 35 10 2 1 2 3 1 2 3 1 2 1 27 11 2 1 2 3 2 3 1 2 3 2 28 12 2 1 2 3 3 1 2 3