用干涉显微技术测量炭黑分散度.pdfVIP

维普资讯 现代橡胶技术 2006第 32卷 用干涉显微技术测量炭黑分散度 安 阳 编译 摘 要 ：哥伦 比亚化学品公司新近开发的于涉显微技术(IFM)是将光学显微技术得到的景化结果与快速表面粗糙度分析 技术相结合的技术 ．该技术能快速地测量炭黑分散度。 关键词 ：炭黑分散度 ；测量 ；F涉最微技术 为了使胶料混炼最优化，对填充剂在胶料中 于测试炭黑填充胶料的试样 ，但是这项技术也能 的分散度进行表征已有将近一个世纪的历史了。 应用于除炭黑外的其它填充剂分散度的测试。 在胶料混炼过程中过分混炼会增加胶料的生产 成本，而填充剂在胶料中不均匀 的分散度则会降 低产品的使用寿命 ，在极个别情况下还会导致产 品报废。表征填充剂分散度 的最古老而又最重 要的方法是采用光学显微技术对胶料的薄切片 进行分析。但是这种技术受到显微协片技术的 限制 ：因为这是一项需要花费很大精力而且耗 时 较长的工作 ，不适用于常规 、快速的分析。表征 填充剂分散度的较快速、相对廉价的方法取决于 图 1 含炭黑橡胶试样的三维地形 图 制备试样时对试样进行切削后形成的表面粗糙 度。这类技术的主要优势在于试样 的制备较为 2 用干涉测量显微镜进行表征 容易，然而，对试样表面粗糙度 的结果进行量化 一 旦获得试样的Xi一100地形 图，分析软件 通常较为困难。 就会对试样表面发现的波峰和波谷进行离析 、分 辨和表征。这个已经获得的Xi一100地形图通常 1 新技术 与试样表面具有较大的偏差 ，这会影响对与炭黑 把光学显微技术得到 的量化结果与快速表 附聚物有关 的峰值 的识别。为 了消除这个较大 面粗糙度分析的技术相结合 ，就得到 了干涉显微 的偏差 ，采用一种带通快速傅立叶过滤器 (Fast 技术 (IFM)。该技术已被哥伦比亚化学品公司用 FourierTransformfilter)对获得的数据进行处理． 在硫化弹性体体系中炭黑分散度的表征上 ，且该 并且调整起点的高度大小以正确表示图像的高度。 技术已通过了Ambios的技术认证。 第二步是确定 试样表面特征和确定表面峰 AmbiosXi一100IFM采用白色光进行干涉以 值的数量。一旦这个基本表面 的数据被水平化 获得裁切橡胶表面的三维地形图(见图1)。图中 并设置为0，就可从这个图像上设置一个最小的 的波峰和波谷表示试样 中聚集 的炭黑附聚物。 高度偏差 ，这就意味着这个平面可 以识别波峰 基于表面地形测量学 ，数据分析技术被用于表示 (正向高度)和波谷 (反向高度)呈现的数据 (见 表面粗糙度和炭黑分散度 的特性。根据哥伦 比 图2)。用参数来描述炭黑的附聚物 ，例如象波峰 亚化学 品公司的研究 ，炭黑填充胶料的IFM 试验 的数量 、波峰的面积 、每个波峰的高宽 比率和每 结果与采用光学显微技术得到 的结果 (R = 一 个波峰的高度 ，以及其它参数都可得到并用程 0．954)相当吻合。虽然这个原始的关系仅适用 序编成 目录。Xi一100可以提供正确的三维地形 维普资讯 第6期 安 阳．用干涉 微术测世炭黑分敞度 4l 3 试样的制备和加工