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第 26卷第 7期 机 电 工 程 Vol. 26 No. 7
2009年 7月 M echan ical E lectrical Engineering M agazine Ju l. 2009
基于图像处理的电子元器件表面缺陷检测技术
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郑秀莲 ,袁巧玲 ,沈亚琦
( 1. 浙江工业大学浙西分校 信电系 ,浙江 衢州 324000; 2. 浙江工业大学 机械制造及自动化教育部重点实验室 ,浙江 杭州 310014)
摘 要 :针对电子元器件的表面缺陷对其性能和品质有直接影响的问题 ,基于图像处理技术 , 以晶振外
壳缺陷的检测为例 ,研究了电子元器件表面缺陷的检测技术 。首先建立了检测系统平台 ,然后对所获取
的图像进行分析和检测 目标分割 ,并由生成的灰度共生矩阵计算纹理特性值 。基于惯性值对纹理的深
浅具有敏感性 , 比较研究之后 ,采用了惯性值作为检测表面缺陷的指标 。试验结果表明该方法能够有效
检测平面缺陷。
关键词 :表面检测 ; 晶振外壳 ; 图像处理 ;纹理特征
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中图分类号 : TP274 . 5 文献标识码 : A 文章编号 : 1001 - 4551 (2009) 07 - 0014 - 03
Electron ic com ponen ts surface defects detecting technology ba sed on im age proce ssing
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ZHEN G X iulian , YUAN Q iaoling , SH EN Yaqi
( 1. D ep a rtm en t of Inf orm a tion and E lectrica l Eng ineering, W est B ranch of Z hej iang Un iversity of Technology, Q uzhou 324000, Ch ina;
2. TheM OE Key L abora tory of M echan ica lM anuf acture and A u tom a tion, Zhej iang Un iversity of Technology, Hangzhou 310014, Ch ina)
A b stract: A im ing at the Influence of electron ic componen tssu rface quality for its p rop ertie s and p erform ance, surface defect de
tection techno logy was researched ba sed on im age p roce ssing technology, and the detection of crystal o scillators shell wa s u sed a s
an examp le. F irstly, the detection system p latform wa s set up. Then, the treatm en t of acquain ting im ages wa s fu lfilled and
grayscale cooccu rrence m atrix wa s generated. B ecau se the inertia value is se
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