用X光电子能谱仪的研究VDF%2fCTFE共聚物的表面结构.pdfVIP

型全蜜查坌三丝壁三墨查旦堡塑叁丝苎苎—————!丝 用X光电子能谱仪研究VDF／CTFE共聚物的表面结构 陈曙东徐涛刘勇 中嗣工程物理研究院化工材料研，撕缩阳6219C0) 摘要 采用X光电子能谱仪测定共聚物偏Z-氟乙烯VDFr三氟氯乙烯CTFE的表面组成和结构． S光电子谱图可以判断共聚物 由其元素组成可以判断样品中杂质的存在和相应的含量，由碳原子的f1 结构和组成，而且可以进一步推断得到其可能的链接方式． VDF 表面结构 关键词XxPs x／cTFE l、 前言 由不同共聚比的偏二氟乙烯(VDF)和三氟氯乙烯(CTFE)共聚合而形成的一系列共聚物体系，在工 业上有着广泛的应用．其中．未硫化的VDF／CTFE共聚物(俗称为生胶)常作为粘结剂．固体高分子材 料周粘结有关的性能如浸润性、粘着成键作用、热封性能等与材料的表面性质有重要的关 系，而且，由于表面端基浓度、分子量分布和晶体，非晶等影响，使得聚合物表面与体相有 较大得差别，而添加剂和污染物的影响，导致高分子材料出现迁移、渗透和表面偏析等现 象．材料的氧化、老化、降解作用也往往是从表面开始的，因此，复合材料的袭面，界面状 态变化研究交得十分重要．x光电子能谱仪(简称XPS)是常用的表面分析仪器之一，高 分子材料一般是绝缘体，其它表面分析技术易产生电荷积累．难于监测到高分子材料的表 面变化，ESCA技术正是以探测材料的表面层为特征，且对绝缘体进行分析也有很高的灵 敏度，使之在高分子材料表面结构及表面化学研究中起着越来越重要的作用．本研究采用XPS ’ 臆潜仪对VDFICTFE聚合物的表面组成进行研究，并进一步推斯其链节方式． 2、 实验都分 2．1 仪器 VGScientificEscaLab ESCA谱仪：Thermo p 250．光源AIKⅡ，光束尺寸500m，步长 lOOmev,扫描次数25． 2．2样品制备 取一定量的粉状VDF，CITE样品．在称量样品前先进行充分干燥处理．压$1,]．1莸十10x10的药片．在上 述2．1中实验条件下进行测定． 3、 结果与i,-ti仑 由实验得到VDF／CTFE样品的XPS谱图，由谱图中可以得到样品表面相关元素组成．将其列表得到 下列结果(如袭1)，从表l中敛据我们可以知道样品表面的元素组成。与样品组成元素相比，还检测到N、 0、si02、s、Ca等元素的存在t这说明样品在加工和贮存过程中引入了微量的杂质，如si％和Ca等，同 时N、0元素的存在可能与样品表面接触的环境气氛影响有关．根据相关元素的灵敏度因子可以对样品表 面处于不同化学态的元素进行定量．以此可以推断样品的表面组成和相关杂质的含量． !竺!坚全叟查坌王塾苎三堡壅星旦塑墨兰苎苎———————————————一 堂!：堡坐鲤!堕塑型业型坐型型坚笠堕L————————一 堂堡 丝鱼丝型 亘l!!堕：堕L——————亘疃型L——————?塑墼墅翌L 90 157009 313 0．817 Sio， 101 Si 10315 52095 1．04 0．817 oⅫic 98 0．30 1．67 S2D 16930 317 19979 716．83 076 C12p3 16