材料介观结构的SAXS与GISAXS研究.pdfVIP

材料介观结构的SAXS和GISAXS研究 徐耀孙菁华吴 东 煤转化国家重点实验室，中科院山西煤炭化学研究所，山西，030001 自孔道结构规整的介孔分子筛材料被发现以来，因其具有高比表面、大孔容、窄孔分 布和可调孔径等优点，在催化、吸附分离等领域有潜在的应用而备受重视。长期以来，高分 辨透射电子显微镜(HRTEM)、氮气吸附-脱附、小角X射线衍射(SXRD)等技术被组合运用 以确定介孔的结构参数。小角X射线衍射方法需要样品至少三个可辨的衍射峰才能确定分子 筛的周期结构，对结构缺少足够有序性的样品难以确定结构。作为一种非破坏性的结构分析 方法，小角X射线散射技术(SAXS)被广泛应用于解析纳米尺度电子密度不均匀物质 （纳米 颗粒或纳米孔洞）的结构尺寸、比表面、孔径分布、界面信息等。当前SAXS已被普遍用于 表征介孔材料结构，但大多只针对散射曲线中的衍射峰进行解析，以获得介孔有序结构的周 期性特征，对散射曲线当中所包含的其它有价值信息重视不够。