元器件内部气体含量和可靠性研究.pdfVIP

第14卷第3-4期 混合微电子技术——望!．塑 塑j兰 元器件内部气体含量与可靠性研究 航天科技集团一院物资部 毛振敏李京苑 摘要本文探讨了密封元器件内部气体含量超标对元器件质量可靠性的危害性：A、造成元器 件内部环境的化学污染，加速对内部金属的腐蚀作用，导致元器件失去应有的功能；B、引起元器 件内部的软焊料和碳膜发生氧化反应，影响元器件的质量和贮存寿命；C、导致元器件绝缘性能下 降或参数超差；D、低温下引起继电器功能失效等。同时，对密封元器件内部气体台量超标的原因 也作了分析，并提出了一些改进措施。 关键词元器件可靠性气体含量水汽含量腐蚀失效 含量超标对元器件的质量构成严重威胁，在 1前言 航空、航天等高可靠性工程中越来越重要。 密封元器件内部气体含量超标是导致元 1996年以来，由于元器件内部气体含量超标 器件批次性失效的原因之一，容易造成元器 而导