数字电子实验-实验一-TTL集电极开路门与三态输出门测试.pptVIP

实验一 TTL集电极开路门和三态输出门测试 四、实验原理 （一）TTL集电极开路与非门74LS03测试 2、实验连线 将实验箱上电源模块区中的VCC（+5V）及地（GND）通过长导线分别连接至电源接线区中的+5V及GND。在实验箱上找一个合适的插座插上芯片74LS03，并将74LS03的第7脚接上实验箱的地（GND），第14脚接上+5V电源，74LS03的输入变量端接实验箱上开关输入模块区的拨动开关。 （注：实验箱上设有16个拨动开关K1～K16，每个开关的输出状态及它的反极性输出均由插孔引出。开关向上拨动，正极性插孔输出为高电平且状态为“1”，它的反极性插孔输出低电平且状态为“0”；开关向下拨动，正极性插孔输出为低电平且状态为“0”，它的反极性插孔输出高电平且状态为“1”） 2、实验连线 （二）三态输出门的逻辑功能测试及应用 1、测试74LS125三态输出门的逻辑功能 在数字电路实验箱上找一个合适的插座插上芯片74LS125，并在74LS125的第7脚接上实验箱的地（GND），第14脚接上电源（+5V），三态门输入端接逻辑开关（开关输入模块区），三态门控制端接实验箱上单脉冲模块区中的SP1（每按AN1按钮一次，可产生一个正脉冲），输出接逻辑电平显示（LED指示模块区）。测试74LS125中的一个三态门的逻辑