掠射椭偏谱学模型地研究.pdfVIP

引 A017 掠射椭偏谱学模型的研究 张胜涛’王林2谢昭明’陶长元， 、重庆大学化学化工学院4000442、重庆师范专科学校400010 传统的椭偏技术采用反射测量方式，即以椭偏光为 “探针”，通过测量偏 振光在固体表面或两相界面反射前后偏振状态的变化来研究表面或界面的状态和 性质。反射式椭偏技术所获得的信息代表了具有反射性的表面或界面和与之相邻 接的周围介质的综合性质，要将这些信息分离为分别反映表面或界面以及周围介 质性质的物理化学参量是极其困难的.实验证明掠射式椭偏实验方案所测定的电 化学谱能够反映电极表面附近溶液层中离子分布的行为及离子浓度变化的规律。 由于椭偏光的入射方式的不同，导致所获得的实验参数在本质上的不同，因而反 射式椭偏技术的理论不再适用于掠射式椭偏谱学方法，须建立适合于掠射式椭偏 技术的理论以期明确掠射式椭偏参数的物理化学意义，深入认识掠射式椭偏参数 与体系物理化学性质之间的内在联系。