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19(4)}507~5082000年
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红外探测器中的异质界面和缺陷的研究
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(北京有色奁鼻研究蕙簏分析嚼斌技术研宄所,北京100088)
近年来,在羹蓐、鼍测、制导、璜■、夜梗、探空监视、以及医学诊断等曩■中,SiG电/p每i异质
结舡外舞■■夏舡外蠢平面阵列技术巴量示出重蔓的盛用前景Ⅱ】。为了曩膏了摄翻■的量子效
事。采用了叠屡螭榆的发射极啪.因此,嚣件的性糟与其羹壤梅、界面状况和其中的晶格镰睹有密
切的关熏。奉吏摹用定位横断再试样翻鲁技术时三屡和六晨叠晨结构晦红外探■嚣进行了曩寡,
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酉同时生长构参量量的作用,丽在光慧区一■产生奠瞄.在井鼙生长的初期,这壁■糟的区麓比
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(111)爵.巷太多歙散事量的摹疰倪为2~4蠡爵向毫.可笕,光t嚣边彝并不墨疆■赫宠叠‘体
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可麓小.这些缺陷的存在将导致反向蔫电.撼t医的井鼍量绝糠的菲蠡s∞。晨,莽■如。层与
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因为第一层Sj。sG‰。在菲晶siq层上膻机戚棱,然后,以这些晶校为中心外延生长。由于^麓
之同匪膏近,约5~12nm,生长过程中相互作用,当长到一定程度时,晶粒生长方向发生变化,园
而未长成贯通的柱状晶。一般来说,晶粒越大,晶粒在生长方向越长。继后的U口Si层和Si。。
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