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A104
Y—MnO:半导体平带电位的研究
李永军郭源’夏熙
(新疆大学应Hj化学所830046)
多年来,人们对半导体电极/溶液界面的电子转移现象进行了广泛的研究,无论住理论
上还是实际应用中均取得了很人的突破【““。二氧化锰作为f也池重要的正极材料,人们对它
的化学性质、电化学性质、阴极还原机理进行了深入的研究,但是从其、r导体角度米研究二
氧化锰电极/溶液界面动力学行为在文献中还朱曾报道。
要从、l,导体角度来研究半导体电极/溶液界面,首先必须作山、}导体/溶液界面的能级
剀,这时.平带电位是一个必不可少的参数:同时,平带电何也是联系、r导体本体性质与溶
液性质的桥梁。本文土要研究Y.Mno,的平带电位。
cHl660电化学综合
1m01/IKcl水溶液作为研究体系,_【}j
H』不同浓度的【Fe(cN)。】3_一O
Kcl溶液进行循环伏安洲试.
删试仪测量循环伏安曲线和Mott—schonky曲线。川0.1mol/1
6V
0—0 Vs
可以确定Y.MnO,电板形成耗尽层的电位区间【3…。从循环伏安幽可以看出住一l
vsscE左廿还是有一个弱
scE之间似乎形成耗尽层,但是仔细观察却发现住一0.4一·0.2V
峰出现.这可能是MnO,还原为Mn。、Mn2+的还原峰,此时对丁二一二氧化锰电极来说是否形
成耗尽层,这关系到Mon.schottky方程能否适剧的问题。在以卜测定平带屯位时.选取一0.6一
ov vs.scE,远人r
vs.scE这一电位区间,注意到【Fe(cN)。】3_的标准电极电位V=o.109V
锰的还原电位,从电化学的基础知识可知,在存在【Fe(cN)。P时,锰被还原的可能性极小,
vsscE这一电位区间内,二氧化锰电极在【Fe(cN)。1^溶液中形成耗
可以认为在.o.6一ov
尽层。
050v
vs
0.1mol门KcI溶液中测得平带电位值为.O.970±O
vs.SCE。
O 250±O.010V
lmol门Kcl溶液中洲得为一1
可见,同一浓度r[Fe(cN)。]._住不同频率F的平带电位与频率无关,且在误斧范同内-
曲线的斜率是一致的。冈此认为住我们研究的条件F,外加电位基本上作州在、F导体的空间
电荷层上,既能带边缘住所研究的电位范围内不发生移动,符合理想半导体行为”’“。
vs.sHE。其中Eo。;、Eo。;分5;15为导带羊¨价带边缘的能昔。
标度):Eo。;=.O75ev,Eo。。=.0.35ev
vs.sHE【”,我们得出的二氧化锰平带电何值
一般来说,平带电位处丁I导带以上o.1一o.2eV
处r导带以上,说明我们所得的平带电位值是合理的。
实验所得的半带电位值低丁-外加电位值,这也进一步证实了7一MnO!是n·型、r导体·手¨
+联系人
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其他化学I.作者所得的结论一致‘”。T.Odenweller【81认为不同的浓度氧化还原物种对平带电
何有一定的影响,浓度增人平带电位正移,我们也得出相似的结论。
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