蒙脱土%2f环氧树脂纳米复合材料自由体积和界面特性的正电子研究.pdfVIP

嗽事 第九届全国正电子谱学会议 麟 蒙脱土/环氧树脂纳米复合材料自由体积与界面特性 的正电子研究 李相武’)，王波’)，郑亚萍2) 1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉，430072 2) 西北工业大学化学系，西安，710000 摘要:利用正电子湮没寿命谱(PALS)研究了环氧树脂蒙脱土纳米复合材料中正电子湮没参 数、自由体积特性和力学性能随蒙脱土含量的变化 一、前言 由于纳米相的表面效应、体积效应、量子尺寸效应及宏观量子隧道效应等，使得高分 子纳米复合材料与常规聚合物复合材料相比，具有重量轻、高强度、高阻隔性、优良的稳定 性、耐高温和低的热膨胀系数等优点，这已成为当今材料科学研究的热点。但从原子分子水 平研究其界面特性和微结构缺陷与宏观性能之间的关系的报道还很少，常规的实验方法也难 以给出上述信息。 正电子湮没寿命谱 (PALS)作为原子尺度的探测自由体积的微探针，以及其灵敏、原 位、无干扰等特点，在高分子纳米复合材料的微结构研究中显得尤其重要。本文以蒙脱土作 为纳米相添加到环氧树脂中形成纳米复合材料，利用正电子湮没技术研究了材料的自由体积 与界面特性。 二、实验 1.力学性能测试实验: 下表是不同MMT含量的复合材料的冲击强度和弯曲强度。 MMT含量 (%) 1 2 4 冲击强度(KJ/m2) 4.47 14.66 12石1 11.2 弯曲强度 (MPa) 67.6 111.7 11地_， 99.6 2.正电子湮没实验: 正电子寿命谱测量采用ORTEC-583微分恒定比定时电路组成的快一快符合系统，探头由 高效BeF2晶体和XP2020Q光电倍增管组成。正电子源为20uCi的2Na的放射源，样品与 放射源采用夹芯方式，即放射源夹在两片相同的样品之间。每个谱的总计数为1X1护，收谱 时间为 1-2ho整个实验在室温下进行，谱仪的分辨函数为两高斯函数，其半高宽分别为 270ps(90%)和300ps(10%)0 三、结果与讨论 所有正电子寿命谱均采用PATFTT[’]程序拟合成三个寿命分量，扣除本底和源成分后， 拟合优度x21.2。在高聚物复合材料中，一般认为:最短寿命下1分量来源于P-P:和自由 正电子的湮没，最长寿命T3分量来源o-Ps湮没。o-Ps湮没是发生在自由体积孔洞中的碰 撞湮没 (Pick-offannihilation)，与自由体积有关，按照自由体积模型，其大小和强度反映了 材料中自由体积的大小和浓度[21。中间寿命分量一般认为来源于正电子在晶区缺陷中和材料 内界面处的湮没[31 图1给出了。-Ps寿命的大小T3随蒙脱土含量变化的关系。当加入少量蒙脱土时，Tq 下降，到达2%时下降到最小值:这是由于少量的蒙脱土加入时，容易被均匀分散于环氧树 脂基体中，由于纳米效应，蒙脱土会与周围的环氧树脂发生强的相互作用，增加了基体的交 联度，限制了高分子链段的运动，使得飞。下降;但随着蒙脱土含量进一步增加时，:3又上 升到初始值，以后基本保持不变。这是因为蒙脱土增多时，不容易被均匀分散在高分子基体 — 73— 9thNationalConferenceonPositronAnnihilation 君 中，即纳米相发生团聚，使得纳米相与基体间的相互作用减弱。 一 } 玄. {}{{}} 1’寸‘一一廿一代一一佘一代一一士一 .L.e一一寸一一扩一护一份一护一 W,/% wt/% 图1