X 荧光光谱法快速测定手机有害元素含量.pdfVIP

第42卷第 12期 广 州 化 工 Vo1．42No．12 2014年6月 GuangzhouChemicalIndustry Jun．2014 X荧光光谱法快速测定手机有害元素含量 刘祥军，陈燕舞，杨雅兰，黄思琪，梁木春，叶俊英 (顺德职业技术学院应用X_z-技术学院，广东 佛山 528333) 摘 要 ：采用x荧光光谱仪快速分析20款手机表面的cr、cd、Pb、Hg以及Br等多种RoHS限制的有害元素含量。该方法 对不同大小 ，形状，品牌的手机可不做任何的预处理，直接无损测定其表面有害元素。测定结果表明，抽查的20款手机，整体表 现优秀，合格率达到95％；方法精密度 良好。 关键词 ：X荧光光谱法；手机；RoHS；有害元素 中图分类号 ：0657．34 文献标志码 ：B 文章编号：1001—9677(2014)012—0131—03 RapidDetermination ofHarmfulElementConte