利用 HPGe γ谱仪快速测量226 Ra.pdfVIP

第34卷 第9期 核电子学与探测技术 Vo1．34 No．9 2014年 9月 NuclearElectronics DetectionTechnology Sept． 2014 利用 HPGe 谱仪快速测量226Ra 张轶名 ，於国兵 ，杜勤 ，闻德运 ，顾先宝 ，潘灵婧。 (1．中国同辐股份有限公司，北京 100045；2．安徽省辐射环境监督站，安徽 230022； 3．中国科学技术大学核科学技术学院，安徽230027) 摘要：HPGe3谱分析中，一般通过测量222l~n的子体来确定样品中 Ra的含量，这种方法需要对样 品密封数周后测量，无法实现样品中 Ra含量的快速测量。文章分析了样品 谱中186keV全能峰的 计数来源，对使用 186keV全能峰计算出的拍Ra的含量结果进行修正，得到较好的实验结果，实现了用 186keV全能峰快速测量样品中Ra的含量。 关键词：HPGe；谱分析；226Ra；快速测量 中图分类号： TL81 文献标志码： A 文章编号： 0258-0934(2014)09．1132-03 测量 。Ra的方法有射气法、谱法和 谱 Ra自身衰变的一支 186keV的 射线来快速 法川。射气法都不是直接测量 。Ra，是基于测 测量 Ra的含量。 量砣Rn或其子体来确定，因此一般要求样品处 1 原理 于 Ra和 Rn平衡状态，样品需要密封3～20 d_2J， 射气法还需要对样品进行化学处理，测量 在放射性核素的 谱分析中，对某种放射 费时费力；谱法测量 。Ra是直接测量其发射 性核素含量测定最直接的方法就是测量该核素 的 粒子 (分支比93．84％的4．784MeV，分支 衰变过程中所释放的特征 ^y射线强度。根据 比6．16％的4．601MeV) 该方法可以实现直 。Ra的衰变纲图 ]226Ra衰变到弛Rn的过程 接 Ra，但是样品需要经过复杂放化处理并最 中释放出186．21keV(3．59％ )的特征 射 终电镀到金属片上测量，方法比较复杂还要考 线，因此如果直接测量 。Ra的 186．21keV的 虑回收率。 谱法测量样品不需要进行复杂的 能峰可以快速确定其含量，而不需要密封保存 化学处理，方法相对简单，通常也是测量平衡后 至 Rn与子体平衡后再进行测量 ]。但是 u 样品中 Rn的子体 (如HBj或者 ¨Pb)来确 也释放出一支 185．72keV(分之比57．5％5) 定 。Ra，样品需要密封 3—4周 j。上述方法 的^y射线，这两支射线非常邻近，使用HPGe^y 在 日常监测中都很适用，但是在应急测量中需 谱仪不能将两条谱线分辨 出来。因此在对 要快速给出测量结果，这些方法都不具有这样 。RaN量时，必须考虑 u的干扰。如果在测 的特点。下面介绍一种直接快速测量 。Ra的 得的186keV能峰的面积中扣除 u的贡献， 方法，该方法通过利用HPGe7谱仪直接测量拍 即可以得到实际 。Ra的含量。图 l为船。Ra 和弱U的衰变纲图。计算过程如下： N186kev ：A 4 收稿 日期：2014—07—10 — 226s186kev叩R8—226t+ 作者简介：张轶名(1981～)，男，河南人，工程师，硕 Au一 235 l86kev u一235t 士研究生，从事核能与核技术工程领域研究。通信