脉冲中子测量中用长计数器校准闪烁探测器的方法.pdfVIP

全国第十二届核电子学与核探测技术学术年会论文集 ofthe12thNational ConferenceOn Proceedings Nuclear Electronics＆Nulear Detecti。n Technolo盯 脉冲中子测量中用长计数器校准闪烁探测器的方法 艾 杰，马景芳，范锐锋，戴红跃，文延伟 (中国工程物理研究院流体物理研究所，四川绵阳919一101信箱621900) 摘要：介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合，通过长计数器对内烁探测器进行适时校准，进而以闪烁探测 器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法。该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落，又避免了闪 烁探测器受-／本底影响大的缺陷，同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探铡效率的优点，将长计 数器成功地运用于脉冲中子辐射场中，在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子洼量(率)的量值传递，实现了 脉冲中子源中子产额的测量。 关键词：脉冲中子；长计数器；校准；中子注量；死时间 O引言 标准放射性核索中子源(实验室具备)对其效率 长计数器是一种简便可靠的中子探测器， 适时校准，故考虑将长计数器引入脉冲中子产 其突出优点是探测效率随中子能量变化缓慢， 额测量中并将其作为次级标准。为此，我们提 而且能在强7本底场下工作。刻度出长计数器 出了在脉冲中子测量中用长计数器校准闪烁探 的效率，并准确测量实验室散射因子，则长计数 测器的方法，解决了长计数器统计涨落大、闪烁 器能够比较准确地测量快中子的注量(率)，因 探测器刻度困难以及受7本底影响大的问题。 此被广泛用作中子注量(率)测量的次级标 准…。但由于长计数器受死时间的限制，不能 1校准方法及原理 在高计数率下工作，单次计数不能太高，因而其 用闪烁探测器(微分型，下同)与长计数器 在用于脉冲中子(单次中子注量率较高)测量时 同时对脉冲中子源进行多次重复测量，用长计 存在较大的统计涨落，一般大于10％。 数器(次级标准)对统计涨落较小的闪烁探测器 但基于长计数器具有对7不敏感、平能量 进行校准，然后用闪烁探测器给出脉冲中子源 响应”，、其效率刻度简单准确(不确定度小于 中子产额，从而避免长计数器统计涨落大的问 2％)…且其稳定性、重复性好等优点，并且可用 题。测量布局如图1所示。 射——+1示渡器I s2——+1 I LVI+——一低压电葫I LW．_——1低压电源I HVI+——一高压电嚣I 商芍潭 Hv2+——一高压电源I 孑[—]f|U 图l 脉冲中子源中子产额测量布局示意图 1．1长计数器的产额计算公式殛其不确定度 0。=．1v，≠。 (1) 利用加速器恒定中子源刻度的长计数器效