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硬x射线图像时间分辨获取技术实验研究 李成刚，邓建军，江孝国，李勤 ‘中国L．程物理研究院流体物理研究胙，四川绵阳621900) 引言 碗x射线具有强穿透能力，布工业、国防及科研领域彳『着广泛的应用。尤其柱武器物碑研究中， 硬x射线町用于实现高密度结构的内部渗断。 传统的底H成像法和磷光板记录浊由于只能实现X射线的积分成像，不适用于物质内部结构的 快过程诊断。为了实现时问分辨的x射线图像获取，通常采用伽玛相机。佃玛丰日机利用转换屏将^ 射的x射线信号转换为可虻光信号．然后利用光：极管阵列或CCD丰盯机将可见光信号转换为电信 号，实耻X射线图像获取。采用伽玛相自【能够获得实时的数宁闭像，其时间分辨率主要取陕于转换 体的余晖时问、光电转换器件的性能、光路设计，以厦信息存储方式。由_J伽马相机具有优越的时 间分辨特性．正∞得到越米越J_泛帕应用。 从2000年以后，我国陆续开展了一系列快闪烁晶体的发光特性研究，计尝试与，苛速柏帆相结台 用于时间分辨X射线成像。然而，由十采用闪烁晶体的衰减时间通常为几百ns，甚争数个Ⅱs，导 致图像的时间分辨精度无法进步提高。为了获得儿十iis级的时问分辨X射线阿像．需要采用超快 闪烁品体与超高速分幅丰H机结合作为探测器。我们对此进行了空验研究。 1 超快闪烁晶体与高速相机的选择 闪烁品体的性8＆直接决定了伽玛相机的性能。在叫烁品体的各项物理参数th光输m(草于产 额)、余辉时间(发光强度衰减为峰值强度l止所用的时M)咀肚峰值波长(闪烁晶体发光光潜阿中， 强度最大值所对应的波长)这三个参数昂为重要。^6体的景子产额越高，对成像探测器(鲫CCD) 的灵镀座要求越低：余肄时问则决定了伽玛相机的时间分辨极限：峰值波长刚要求与}茈像探铡器 (ccDl的响应波长应尽可能一致。 通用的CsI(TI)伽蚂相机的极限时问分辨率为1000帧／秒，正足m该晶体的余辉时间决定。为了使伽 玛相机具有更快地时间分辨，必钡使用余辉时间更短的闲烁晶体。实验中，我们使用了CeF，及LYSO 两种品体，其余辉时间分别为30ns和40ns。 表1儿种附堪体材料参数 高速相机参数是决定伽玛相机性能的另一重要部分，实验巾我 们选用了我所与深圳大学台作研制的八通道纳杪分幅相机，茂棚帆 的波长响心范围为350nm到750am，曝光时删分为2ns、5as及】0ns 三柑．图像幅间问隔分为10ns、20ns、40as、80ns、160ns、320m、 640its殛t280ns共训8档， 图1^通道纳秒分幅相机 2实验及结果分析 实验布局如图2所不。x射线源由神龙一号直 线感应加速器产生的电子束120MeV,25kA．90ns) 扣靶产生，X射线经过成像装置后在闪烁晶体上可 获得可见光刚像，利片I八通道纳秒分幅相机进行图 吻 n尚 像接收。 分别对直径38mm厚度10mm的一块CeF3晶体 25l孺源成像。洲陶。1—J 及K ：蒹棚霪 100mm、宽50nml，厚度分别为10mm和5ram 的两块LYSO晶体进行了试验。采用CeF，晶体进行 固 试验时未能观察到可见光罔像。分析原闻府为该品 体发光的峰情波长处下高速分幅相机的波K响应范围边缘且该晶体 效率较低所致。 采用LYSO晶体则可扶得了随时问变化的连续8幅图像，图3 为x射线源通过一个狭缝犍置所获得的图像，棚邻两幅图像问的时 隔为20ns。对获得图像进行数据处理，获得了x射线脉冲期问光场 的位置变化以及x射线源的强度变化(蚓4)。 蒌蓬薏 由削3可观测到整个x射线光脉冲期间光场中心的位置变化约 ；gi酾润Ii《鍪蓥蠹E ：}2cm，根据该数值火小及实验几何，可对X射线源参数进行进一：厂=一—] 步分析。 此外，图4-l-所获得的X射线时间分辨强度变化与在神龙一号 加速器i’测得的柬流强度变化选到了较好的致。证明了采用 LYSO晶体址纳秒分幅相机可较好地实现硬x射线图像获取。