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第14 讲 成功的关键——抗干扰技术 第14 讲 成功的关键——抗干扰技术 任何检测系统都存在噪声和干扰。抗干扰技术是检测系统的关键技术之一，直接影 响检测系统的成败。 电路中出现的非期望的电信号称为噪声。噪声可能是无规律的信号，也可能是有规 律的信号；噪声可能来自系统的外部，也可能来自系统的内部。噪声从一个地方（噪声 源）耦合到另一个地方（接收电路、测量电路），这个过程称为干扰。外部干扰有电磁干 扰、机械干扰、热干扰、光干扰、湿度干扰、化学干扰等；内部干扰有测量电路寄生电 容、寄生电感导致的交叉干扰；绝缘不良导致的漏电；电路元器件（电阻、晶体管、FET 等）本身产生的固有噪声等。 衡量电路受干扰程度的指标是信噪比（S/N），它是信号通路中，有用信号成分与噪 声成分的比值，用分贝表示 P U S / N 10lg s 20 lg s （单位dB ） P U n n 式中，P ，U 分别为有用信号的功率和电压；P ，U 分别为噪声成份的功率和电压。 s s n n 14．1 电子器件的固有噪声及抑制措施P383 一．热噪声： 任何电阻既使不与电源相连，在它的两端也存在微弱的电压。这种电压是由电阻中 电子的热运动形成的，故称为热噪声。热噪声是白噪声。热噪声的常用指标有： 1．噪声电平：U 4kTRB 。式中，k 为玻尔兹曼常数，其值为1.38 ×10−23 J / K ；T n 为绝对温度；R 为电阻值；B 为频带宽度。 2 ．噪声功率：将上式改写成功率形式，得噪声功率P U 2 / R 4kTB ，可见噪声功率 n n 与温度和频带宽度成正比。 3 ．噪声功率谱密度：P / B 4kT 。可见，电阻的热噪声在带限范围内，对于每一赫兹 n 具有相同的噪声功率。 4 ．噪声电压密度：U / B 4kTR （单位V / Hz ）。 n 5 例：某电阻R 750kΩ，带宽B= 10 Hz ，环境温度T 300k ，则 U 4kTRB 4 ×1.38 ×10−23 ×300 ×750 ×103 ×105 35.1μV n 此时噪声密度U / B 111nV / Hz 。 n 说明：①减小R 和B 可降低热噪声干扰，在比例放大电路中应注意R 的选取。②热 噪声不仅存在于电阻中，还存在于BJT 的体电阻和FET 的沟道电阻中，这是由载流子不 规则运动造成的。③噪声电压密度又称为噪声密度，还可用来评价其他电子元器件，如： 美信（MAXIM ）公司的低噪声、高精度运放MAX4475~MAX4479 在1kHz 处的噪声密 度只有4.5nV / Hz 。 14 - 1 第14 讲 成功的关键——抗干扰技术 二．散粒噪声 散粒噪声存在于电子管和半导体两种元器件中。在电子管中，散粒噪声来自阴极电 子的随机发射；在半导体内，散粒噪声是通过晶体管基区载流子的随机扩散以及电子-空 穴对的随机发生及复合形成的。 通常所说的BJT 中的电流，只是一个平均值。实际上，通过发射结注入到基区的载 流子数目，在各个瞬时都不相同，因而引起发射极电流或集电极电流有一个无规则的波 动，产生散粒噪声。散粒噪声电流为 I n 2qIB 式中，q 为单个载流