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光学工程实验技术复习总结.pdf
光学工程实验技术课
目录
光学工程实验技术课1
� 材料表征与分析技术1
� 分光光度计3
� 光学镀膜3
� 泵浦-探测实验技术5
� 荧光光谱法6
� LED 封装7
� 太阳能电池:9
� 显示技术11
� 光电子集成与激光器件研究13
� 条纹相机14
� 光参量波长调谐15
� 激光光谱测量技术17
� 钛宝石自锁模飞秒激光脉冲的产生与诊断18
� 钛宝石飞秒再生放大器原理、结构与控制21
� 扫描近场光学显微镜22
� 材料表征与分析技术
� 材料表征与分析技术
�� 材材料料表表征征与与分分析析技技术术
扫描电子显微镜(SEM)原理:
扫描电子显微镜是将电子枪发射出来的电子聚焦成很细的电子束,用此电子
束在样品表面进行逐行扫描,电子束激发样品表面发射二次电子,二次电子被收
集并转换成电信号,在荧光屏上同步扫描成像。由于样品表面形貌各异,发射二
次电子强度不同。对应在屏幕上亮度不同,得到表面形貌像。目前分辨率已达到
2nm左右。
扫描探针显微镜(SPM)原理:
基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被研究物
质的表面上方扫描时检测两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性,
不同类型的SPM之间的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖——样品
相互作用方式的不同。
扫描隧道显微镜(STM)原理:
STM 的工作原理来源于量子力学中的隧道贯穿原理。其核心是一个能在
样品表面上扫描、并与样品间有一定偏置电压、其直径为原子尺度的针尖。
由于电子隧穿的几率与势垒 V(rr)的宽度呈现负指数关系,当针尖和样品的
距离非常接近时,其间的势垒变得很薄,电子云相互重叠,在针尖和样品之
间施加一电压,电子就可以通过隧道效应由针尖转移到样品或从样品转移到
针尖,形成隧道电流。通过记录针尖与样 品间的隧道电流的变化就可以得到
样品表面形貌的信息。
原子力显微镜(AFM)工作原理:
它的工作原理是将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一
微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触。由于针尖 尖端原子与样品表面原子
间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬
臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方
向起伏运动。利用光学检测法,可以测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,
从而可以获得样品表面形貌的信息。AFM不仅可以观察导体的表面形貌,还可
以观察非导体的表面形貌,弥补了STM只能观察导体的不足。
X射线衍射的物相定性分析原理:
制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质(样品)的
衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,这就是物相定性分析的基本原理与
方法。
材料表征与分析技术主要有显微分析技术、X射线衍射的物相定性分析、光
学测量等方法。其中显微分析技术包括光学显微镜、扫描电子显微镜和扫描探针
显微镜,根据扫针尖特性及其相应的针尖——样品相互作用方式的不同,有扫描
隧道显微镜、原子力显微镜、磁力显微镜和静电力显微镜等。光学测量主要通过
透射光谱、椭偏光谱、Raman光谱测量和计算机解谱分析实现。
� 分光光度计
� 分光光度计
�� 分分光光光光度度计计
在分光光度计中,将不同波长的光连续照射到一定浓度的样品溶液时,便
可得到特定波长光被吸收的强度。以波长λ为横坐标,吸收强度A为纵坐标,可
得到该物质的吸收光谱曲线。利用该曲线进行物质定性、定量的分析。用紫外光
源测定无色物质的方法为紫外分光光度法,利用可见光光源测定有色物质的方法
为可见光光度法。以Beer-Lambert定理为基础。样品的吸光值与样品浓度成正比。
� 光学镀膜
� 光学镀膜
�� 光光学学镀镀膜膜
光学真空镀膜机主要由真空系统、蒸发系统、膜厚监控系统组成。其中真
空系统由机械泵、扩散泵及真空室等组成,机械用于抽低真空,扩散泵用于抽中
高真空。蒸发系统将膜蒸发,以原子或分子形式淀积在被镀器件的表面,形成薄
膜。按照工作原理可以将蒸发系统分为三种:热蒸发、溅射、离子镀。热蒸发是
通过电阻加热、电子束加热、高频感应加热和激光加热等方法将材
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