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消光法粒度测量中折射率反演问题研究.pdf
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消光法粒度测量中折射率反演问题研究
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徐 峰 ，蔡小舒 ，苏明旭 ，任宽芳
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(%)’上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所*+,-.，上海 !/$ ；
!)’法国国家科研中心空间热化学联合研究所012*3，法国 鲁昂456% ）
摘 要：利用多波长消光法，在已知粒度分布前提下，采用遗传算法 a%b a!b
微米和亚微米级的颗粒进行离线 和在线 的测量，
对折射率进行了反演。相比于传统的优化方法通常获得的局部最优 并可同时得到颗粒相浓度和粒度，因而得到了较广
解，该算法获得的折射率结果逼近全局最优解。反演采用的波长数
泛的应用。
目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性。尽量多地获得透射谱信
息以及增大颗粒系的分散性可以是测量结果更准确。由于亚微米和 采用白光作为光源并配合光谱仪或其他分光元
纳米级颗粒的消光系数 折射率曲线的单值性关系比微米级颗粒 件，通过对透射光谱的测量和反演，得到颗粒粒径分
7
更为明显，导致其目标函数的多峰分布程度得以降低，使反演的抗 布是此类粒度仪的普遍做法a%b ，它的前提是已知被
噪能力增强，折射率更易于获得。 测颗粒的折射率。
关键词：颗粒测量； 散射；折射率；反演
.89
在此基础上，颗粒折射率的反演又成为很多研
中图分类号： 文献标识码：
,:4;;’’’’’’’’ 3
文章编号： （ ） 究人员关心的问题。由于颗粒的粒径分布可以由电
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镜成像等其他方法测得，本文中试图对粒径分布已
*=9?@ 8A=AB29 B?CDE89*=F9G8=+ C?E8DH9 I8J8=K 知情况下的折射率反演做一探讨。
LM.NHE87 @O9 DE?CH’P8KQE’RGE8=DE8A=’.9EQAF
%’’’多波长消光法测粒技术及反演a$b
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