GOA产品进行性异常显示问题解析及改善.pdfVIP

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2017-08-11 发布于安徽
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GOA产品进行性异常显示问题的解析及改善封宾，陈华斌，高英强，袁剑峰，邵喜斌北京京东方显示技术有限公司 76 北京经济技术开发区经海一路儿8号，邮编：1001 Driveron 摘要：随着GO“Gate 以及工艺的良率问题，目前还存在着一定的局限性。本论文对GOA产品在信赖性评价中出现的进行性异常显示AbnormalDisplay，简称AD环良的发生机理及改善方案进行了深入的剖析。实验证明在长期信赖性测谢高温高湿环境)中，GOA单元表面的部分过孔ITO会发生劣化，该劣化属电化学腐蚀，当过孔工艺中存在倒角或台阶时，ITO臼勺劣化会首先发生在边缘处，极易形成AD不良。关键词：TFT—LCD，GOA，ITO劣化，异常显示 The and ofAbnormalIssue AnalysisImprovementDisplay in TestwithGOA Aging Product FENG Xibin Bin，CHENHuabin，GAO Yingqiang，YUANJianfeng，SHAO BOE No．118 00176CHN BeijingDisplayTechnologyCo．，Ltd． Jinghaiyilu，BDA，Beijing，1 Abstract：Asthe of on Driver in and inTFT—LCD improvementGOA(GateArray)technologydesignprocess，itsapplication is moreandmore aresomeIimitationsbecauseofthe ofTFTdeviceandits displaybecoming popular，but，there stability yield this issueofabnormaI and foundthatITOonviahole problem．1nthesis，theprogressive display(AD)wasanalyzedimproved．We inGOAwould aftera term testandIotsof thatthe OfITOwasthe part degradedlong reliabiIity experimentsproved degradation electrochemicalcorrosion．badviahole wouldleadthe jn andADjssue process degradationedgefirstly