X射线高空间分辨多色显微成像系统研制及应用.pdfVIP

第 27卷第 3期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1．27，No．3 2015年 3月 HIGH POW ER LASER AND PARTICLE BEAMS Mar．，2015 X射线高空间分辨多色显微成像系统研制及应用 曹柱荣 ， 丁永坤 ，董建军 ，邓 博 ，黎宇坤 ，穆宝忠。， 伊圣振z，吴俊峰。， 陈 韬 ， 张继彦 ， 杨志文 ， 袁 铮 ， 李 晋 ， 胡 昕 ， 杨正华 ， 缪文勇 ， 蒋 炜 ，袁永腾 ，黄天嗄 ， 陈伯伦 ， 陈家斌 ，詹夏雨 ，张海鹰 ，康洞国s， 谷建法。， 叶文华。，王占山。， 刘慎业 ， 江少恩 ， 张保汉 ， 张维岩 (1．中国工程物理研究院 激光聚变研究中心 ，四川 绵阳 621900； 2．同济大学 先进微结构材料教育部重点实验室 ，上海 200092； 3．北京应用物理与计算数学研 究所，北京 100094； 4．中国工程物理研究院，四川 绵 阳 621900) 摘 要： 在激光间接驱动惯性约束聚变(ICF)领域中，获得具有极高空间分辨率 (优于 5“m)的X射线辐 射 图像 ，是研究烧蚀不稳定性、内爆流线等关键物理过程 的数据基础 。基于掠入射反射式成像原理的 Kirk— patrick-Baez(KB)显微成像系统作为一种具有高空间分辨率和集光效率 的x射线显微诊断设备 ，目前 已成为 国际ICF装置的X射线关键诊断设备。在神光 Ⅱ和神光 Ⅲ原型装置条件上开展了KB诊断技术及设备的研 究 ，在 KB系统 的光学设计 、光学元件和物镜与系统装调技术等方面取得 了许多重要进展 ，研制 了大视场 KB、 多色 KB等高分辨率 x射线显微成像系统 。这些系统已应用于我 国的 ICF内爆芯部发光和流线测量 、流体不 稳定增长测量等实验 中，为关键物理量的测量提供 了高空间分辨率的清晰图像 。 关键词： Kirkpatrick—Baez显微镜 ； 高空间分辨； 等离子体诊断 ； 惯性约束聚变 中图分类号 ： O53 文献标志码 ： A doi：lO．11884／HPLPB201527．032013 激光间接驱动惯性约束聚变 (ICF)的物理过程 中辐射 出大量关于空间、时间和能谱分布的x射线数据信 息，对其进行诊断可以获得高温高密度等离子体的瞬态信息 以及连续的时空演化行为，从而为靶 的结构设计 、 激光辐照条件和模拟程序校核等提供实验依据 。常用的X射线成像诊断技术主要基于针孔成像 、掠入射反射 式成像和弯晶成像原理。针孔相机是 ICF实验中应用最为广泛的一种 X射线诊断设备I1]，其结构简单 、成本 低廉 ，且可以与条纹相机 、分幅相机 、透射光栅和晶体谱仪结合起来 ，构成测量等离子体时空和能谱特性的系 统 ，至今仍在美 国NIF和法 国LMJ装置上得到广泛使用L5 。但是针孔成像存在原理上的缺陷，即其集光立 体角很小 ，只有 10 sr量级 ，对探测器 的灵敏度要求极高口 ，这给时空诊断或者时空谱诊断带来 了很大 困难 。 另外 ，受衍射效应影响，针孔的最小孔径受到限制 ，极大影响了针孑L相机的分辨率，只能达到约 10 m，难 以满 足如烧蚀 RT不稳定性增长 、内爆流线细节等精密化诊断实验 的要求。基于罗兰圆结构 的弯晶成像诊断可 以 实现很高的单色化谱分辨，空间分辨可以达到 5～10 m，同时大数值孔径也显著提升了系统 的集光效率。但 是晶体压弯过程所带来的面形误差使得空间分辨无法进一步提高至优于 5 m的水平 。 Kirkpatrick—Baez(KB)显微镜是基于掠入射反射式成像原理发展出来的一种高分辨 x射线诊断设备 。它 由两块正交放置的掠入射球面或柱面反射镜构成 ，分别在子午和弧矢方向上实现聚焦 ，校正 了单块球面反射镜 在掠人射情况下的严重像散[1。KB显微镜改善了针孔成像设备集光效率低、信噪比不高的弱点，可 以实现 3 ～ 5Ⅱrn的空间分辨 以及 10 sr量级 的集光效率 ，通过选择合适 的膜系结构 ，还可 以实现一定 的能谱分 辨 … 。 “单通道 KB+条纹相机”和 “四通道 KB+分幅相机”已经成为 国际上 OMEGA和 LMJ等强激光 ICF装置的关键 x射线成像诊断设备 ，广泛应用于 x射线背光或 自发光成像 、内