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第 2 1 卷  第 5 期 传 感 技 术 学 报 Vol . 2 1  N o . 5 2008 年 5 月 CHIN ES E J OU RNAL OF S ENSORS AND AC TUA TORS MA Y. 2008 Research on Onl ine Detecting f or L ED Chips YI N Fei , L I P i ng , W E N Yum ei , L I L i an , W U Yuf en , Z H A N G X i n Col leg e of Op toelect ronic Eng i neeri ng , T he Key L aboratory f or Op toelect ronic Technology S y s tems of M i nis t ry of E d ucat ion , Chong qi ng Uni vers ity , Chong qi ng 400044 , Chi na Abstract :Online t e st met ho ds for L ED chip s during p ackagin g p roce ss are not available at p re sent . A non cont act t echnique ba sed on t he p hotovolt aic eff ect in pn j unctio n s and Faraday ’s law i s p re sent ed , w hich i s app lied for det ecting chip s f unction an d connection st at u s bet ween chip s an d lead f rame during p ackaging p roce ss of L ED chip s. Accor ding to t he clo sed circuit st at u s of L ED chip s , in duced circuit i s co mp o sed of multicircuit coil wit h highp er meabilit y bar magnetic core . Different lapp ed way s of magnetic core are u sed to imp rove signaltonoi se ratio , op timal lapp ed way i s det er mined accor ding to t he re sult of exp eriment s. The exp eriment al re sult s show t hat t he t echnique ha s a high det ecting accuracy , and it can realize det ecting for clo sed loop circuit p hotocur rent , w hich i s j u st at microamp ere magnit ude . The calculation re sult s are well con si st ent wit h t he exp eriment al re sult s. Key words :L ED chip s ; online det ecting ; p hotovolt aic eff ect of pn j unction ; Faraday ’s law ; magnetic core EEACC :2570 ;4260D L ED 芯片在线检测方法研究

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