IGBT加速老化实验研究.pdfVIP

IGBT~口速老化实验研究 毛娅婕 ，周雒维，杜 雄，孙鹏菊 (重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室 ，重庆400044) 摘要：绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用，其工作寿命与可靠性将影响到 整个装置或系统的正常运行，对于 IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重 要方法，其在不改变产品故障机制的前提下，提高实验应力，加速产品的故障进程 ，能有效缩短实验时间，节约成本。分 析了IGBT的失效机理 ，依据 IEC标准，设计了IGBT直流功率循环加速老化实验，白行设计搭建了IGBT加速老化实 验系统 ，能够完成器件的老化以及监测老化前后器件参数的变化。研究成果为 IGBT模块的可靠性研究以及健康状态评 估提供了重要依据。 关键词 ：绝缘栅双极型晶体管；失效机理；加速寿命实验 ；可靠性 中图分类号：TM581 文献标识码：A 文章编号：1002-087X(2014)12-2383-03 ResearchofIGBTacceleratedagingtest MAOYa-jie，ZHOULuo—wei，DUXiong，SUNPeng-ju (StateKeyLaboratoryofPowerTransmissionEquipmentSystemSecurityandNewTechnology, ChongqingUniversity,Chongqing400044，c~mn) Abstract：Insulatedgatebip~artransistor (IGBT)powermoduleasthekeydeviceofpowerelectronicdevicesWas widelyusde ．Thenormaloperationofthewholedeviceorsystem Was influencedbytheworking lifena dreliability． Th en，theresearchofitsreliant Was significant．AcceleratedagingtestWas na importantmehtodtostudyIGBT reliabilityproblems． Inthepreconditino ofnotchnagingthefailuremechanism， thetestingtsressWas improvde ， failureprocessWas acceleratde ，thetesttimeWas shortenna dthecostWas savde ．Thefailuremechanism ofIGBT Was na alyzde ． AccordingtotheIEC standard． IGBTdcpowercycleacceleratde agingtes tWas designde na d acceleratde agingtestsystem Was built． 111esystem wasabletoagede vice nadmonitorhtechange ofparameters beforeandafteraging．Researchresultsprovide na importantbasisfortheresearchONthereliabiI於yofIGBTmodule na deVaiUationof healthcondition． Keywords：IGBT；failuremechanism；acceleratedagingtest；reliabiliyt 随着电力电子技术的发展，IGBT功率模块广泛应用于风 满足不了科研和生产的要求，为了在最短的时间内，用最简单 力发电、电力牵引和航空航天动力系统等领域 1【]。上述应用场 的方法模拟实际运行中IGBT功率模块的长期性能变化 ，国内 合不