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集成电路IP 质量评估模型与应用 周萌 赵辉 孙加兴 谢学军 邱善勤 工业和信息化部软件与集成电路促进中心 摘要：集成电路IP 复用已经成为复杂芯片设计的主要方法，但是传统的集成电路IP 质量评 估方法存在着区分度不明显等问题。为此本文提出了一种新的质量评估设计模型并在实际评 测中得到了应用。 关键词：集成电路IP 质量模型 评估 Quality Evaluation Model for Silicon IP and Case Study Zhou Meng Zhao Hui Sun Jiaxing Xie Xuejun Qiu Shanqin Ministry of Industry and Information Technology Software and Integrated Circuit Promotion Center Abstract ：This paper proposes a new semiconductor IP quality appraisal method based on the third party. Case studies demonstrate the third party quality appraisal process for semiconductor IP can improve the IP quality of projects with limited cost. The quality appraisal results also show the states of current IP quality have an improved space. Keyword：Silicon IP Quality Model Evaluation 1. 引言 随着集成电路设计复杂度的提升，人们不会也不可能从零开始设计一款芯片，有数据表 明，目前平均每款芯片中有40% 的部分以上都在重用之前已经完成的设计模块。当对这些 可重用的设计模块进行规范化和产品化后，就成为我们通常所说的硅知识产权，或简称为集 成电路IP 。集成电路IP 根据市场研究机构Gartner 的预测，随着芯片设计成本的逐渐攀升、 设计复杂度增加以及新产品面市时间的缩短等，到2014 年，芯片设计中采用集成电路IP 的 [1] 平均比例将比2010 年多一倍 。 集成电路IP 是一种重要的设计资源，但是如何保证集成电路IP 质量，已成为阻碍集成 电路IP 应用的一个关键环节。通常的做法是设计一套质量保证体系，通过在集成电路IP 开 发过程以及用户选择过程中的应用质量保证体系，来确保开发出或选择到合适的集成电路 IP 。而这样一套质量保证体系的基础是对 IP 质量属性地测量与评估。以VSIA 组织提出的 QIP 质量评估工具为例，其对IP 质量定义中成熟度属性的检查形式可以参见表1，其包括了 [2] 对质量属性的分解和每个分解项的权值设计 。 但是在实际应用中，类似的质量评估方法存在着区分度不足或者质量结论不合理等问 题。针对这些问题，根据集成电路IP 的特点，本文重新设计了集成电路IP 质量评估模型， 基于该模型实现了集成电路IP 质量评估工具，并已经开始应用于国产集成电路IP 评测项目。 表1 VSIA 的IP 成熟度质量检查表 编号 测量内容 初始权值设计 M1 IP 是否曾被用于某一系统芯片设计中 [0,5] M2 是否有客户的证明 [0,2] M3 用于真正的产品或者FPGA 中，且运行正常 [0,5] M4 是否提供对于IP 使用的培训 [0,5]