背光阴影成像技术初步的研究.pdfVIP

背光阴影成像技术初步研究 刘元琼 雷海乐赵学森 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心，四川绵阳621900) 目前预计进行点火实验的靶为包含附着于烧蚀球壳内表面的冷冻DT层。 为了实现点火，冰层内表面质量的鉴定是非常重要的。在某些靶设计中，烧蚀 球壳对可见光是透明的，这极大的便于冰表面参数的测量。目前，透明球壳内 DT冰表面质量的主要光学诊断方法是背光阴影成像法。在这种技术中，从冰 内表面全部反射的光成像为一透明亮带，假设亮带位置半径变化的功率谱相当 于沿垂直于阴影图光轴的大园平面冰内表面半径轮廓的功率谱。由功率谱系数 之和求得一维均方根(rms)粗糙度的平方。 利用几何光学原理分析了透明双层球壳靶(如冷冻靶)阴影图中亮带的形 成机理，亮带是人射光从冰层内表面发生全反射的那部分光经透镜成像而形成 的。形成亮带的入射光线组存在上下边界。 利用光线追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的背光阴影图像，发 现亮带半径与球壳壁厚成反比，与球壳折射率成正比。 理论分析及Tracepro软件对单层球壳的模拟阴影成像分析证明，阴影图亮 带半径随壁厚的增加而减小，壁厚小到一定程度时亮带因无限接近外表面而消 失；在球壳内形成具有明显亮带阴影图像的条件为：对折射率为1．61的球壳， 其直径壁厚比k约小于10。用X射线照相法挑选出直径壁厚比满足上述条件的 RF球壳，利用本实验室建立的一套背光阴影成像装置获得了该样品具有明显亮 带的阴影图像，与用同样参数模拟生成的阴影图像非常吻合，见图1。 49 ●薰◆ ■鋈一。一，一 ●器。。∞ (a)阴影图像 (b)亮带、r径变化展开酬 (c)ID模数一功率谱曲线 图2 PS单层球壳阴影图像及其功率谱分析结果 建赢了背光阴影成像实验装置和技术，获得了代替冷冻靶使用的RF单层 球壳及Ps单层球壳清晰的有明硅亮带结构的阴影图像。 编制了阴影图亮带功率谱分析软件，首次利用阴影图像获得球壳内表面 1一D模数一功率谱曲线，从而了解其内表而质量信息。 理论分析、Trocepro软件模拟研究及实验结果表明：背光阴影成像技术有 可能成为透明冷冻靶冷冻层表面质量方便有效的诊断技术；准直背光源比发散 背光源更适用于该技术；减小光学系统的孔径可能使诊断精度获得提高；在光 路设计相同的情况下，亮带半径与球壳壁厚成反比，而与球壳折射率成正比。 51