IEEE1149协议与在系统可编程实验系统的设计.pdfVIP

维普资讯 第24卷第3期 电气 电子教学学报 Vo1．24No．3 2002年 6月 JOURNAL OF EEE Jun．2002 IEEE1149协议与在系统可编程实验系统的设计 熊俊俏 罗炎林 (江汉石油学院电信系 湖北荆州：434102) 摘 要 介绍了IEEEl149协议及工作原理，分析了几种流行的在系统可编程器件的结构和在系统编程原理，设计了融合多种可编程器件的 实验系统，能满足教学实验需要和科研开发应用的需要，具有较强的通用性和实用性 。 关键词 可编程逻辑器件 IEEE1149．1 IEEEl149ProtolandDesign ofProgrammedExperimentationSystem XION Junqiao，LUO Yanling (DepofElectronicInformation，Jianhanpetroleum university，Jingzhou434102，China) Abstract：ThispaperintroducestheIEEE1149．1protocolanditsworkprinciple．Theprogrammedexperi— mentationsystem forvariousdeviceshasbeendesignedbyanalyzingsomepopularISPdevicesconfigura— tionanddownloadingprinciple，itcanmeetexperimentandscientificresearch，anditisuniversalandprac— ticable． Keywords：programmedlogicdevice(PLD)；IEEEl149．1 了更高的要求，为此提出边界扫描结构与测试协议 0 引言 IEEE1149．1。边界扫描与器件的功能和复杂度无 目前，可编程逻辑器件的应用日益广泛 ，各高校 关，测试端口也与器件的物理尺寸无关，只需少量的 也开设了相关的课程和实验。过去实验线路大都依 寄存器即可完成器件或系统的自动测试和编程。其 据开发软件而支持不同的器件，给实验教学带来许 结构如图1所示。 多不便。本文在分析 IEEE标准 1149．1接 口协议的 基础上，比较了Altera、Xinlix和 Lattice公司的可 输 编程器件结构，采用通用的编程接口，从而使所设计 出 管 的实验线路板能支持不同的可编程器件，适合不同 脚 的开发环境。 1 IEEEl149．1协议与JTAG编程简 介 现代集成器件规模的越来越大，而封装越来越 图 1 边界扫描控制结构 小，且大多采用多层印制板，传统的测试方法已远远 图1中，CORE为待测器件或系统，标准JTAG 不能满足需要，特别是单片系统的出现给测试提出 接口采用 4个基本信号：TCK、TMS、TDI和 TDO。 收稿 日期：2002年3月5日 第一作者：熊俊俏，男，1966年出生 ，讲师，从事电子技术的教学与科研工作。