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AO l技术初探 严仕新 (苏州德天自动化科教有限公司) 提要：本文较系统地介绍了当前AOI技术的现状和面临的主要技术难题；阐述了AOI 技术取得了“程序一次确定性和高重复性”的重大突破点。为AOI技术的发展大大地向前 推进了关键性的一步。 关键词：AoI；程序的一次确定性；高重复性；低误判 众所周知，AOI从问世至今已有二十多个年头了，然而这一技术真正地转入实用还是 近几年的事，具体的讲，应是从2004年开始，才真正地转入实用阶段。从这一角度来看， AOI这一技术发展的路可以说是漫长的和辛酸的。何也!理论的太多，实践的太少也。正 因为如此，在这一发展时期，人们把它取了一个非常靓丽的名字——“花瓶”。 从理论上讲，AoI可以代替人眼来观察一切物体，包括这一物体是否符合标准、是否 有缺陷、是怎样的缺陷、它的发展方向是怎样的、它应该向哪一个方向发展等等。然而世 界上万物的变化是无穷尽的、是莫测的，但是是不是有规律呢?!答案是肯定的。谁掌握 了这一规律，谁就是这一世界的霸主!正如金融大锷索罗斯的名言：“世界上任何法规、方 针、政策、条例都有它固有的缺陷，谁找到了这一缺陷，谁就是这一世界的主宰者。”一样。 AOI技术从整体发展来看，国内、国外已经十分接近，甚至在某些方面国内产品还略 胜一畴，比如在可操作性上。但在功能上是难分伯仲的，已经到了相持阶段。也就是说从 AOI问世至今，AOI技术的发展已经遇到了技术上的瓶颈，或者说是技术难关。 那么，当今AoI究竟在哪些方面存在技术上的难题呢?综合来看主要有以下几点： (1)程序的一次确定性问题。具体表现在程序做完以后，一定要有一个漫长的调试和学 习过程，否则就无法来执行检测任务。 一般来讲，AOI按程序调试的方法可分为两大类。 其一，调试型。这类AOI在程序编制完成后，要将已做好的程序进行必要的调试后方 能进行正常的检测运行，这一调试过程少则五、六个小时，多则几天，甚至几十天，只有 待程序相对稳定后，才能投入正常的运行，这类AOI的至命弱点在于——调试的参数很难 确定，很难找到一个理想的标准值，表现的特征为：参数值如果放得太宽，就会产生漏判； 参数值如果放得过严，就会造成误判的大幅攀升，让操作员无法接受。检测效率较低。国 外AOI属于这一类型。 其二，学习型。这类AoI在程序编制完成后，要进行一段时间的学习预测，这样让程 序自动地寻找待测物的变化规律，从而建立待测物的标准的数学模型，这一过程往往需要 二十块以上的PCBA板进行学习建库，这一过程也需要两个小时以上才能完成，这类AOI的 至命弱点在于一在学习过程中，如果将有缺陷的待测物一不小心学习到程序里去了，那 么该类待测物的缺陷将被视为良品，从而无法检出。国产AOI属于这一类型。 无论是调试型的AOI，还是学习型的AOI，它们有一个共同的缺陷——正确与错误之间 是非常接近的，也是很难调整的。因此它们的程序也很难稳定。 618 (2)可重性极差。大多数AOI将一块PCBA板进行反复检测时，出现的结果是不一致的， 进行这样的试验，最优秀的AOI的可重复率只有不到30％!关于这一问题，笔者曾对国外 一著名品牌，进行过这样的实验： 将一块有错件、虚焊、侧立和IC翘脚等四个不良缺陷的PcBA板。用该国外品牌的AOI 进行反复测试二十次所得到的NG结果为： NG数 13 14 15 17 18 19 20 2l 23 24 25 26 27 28 I重复数 2 2 l 4 l I l l l 2 1 l l l 判16个。这块PCBA总器件数为147个，误判率为11％。漏判一次虚焊。当我将有关标准 值调高时，可重复性只有10％，误判率马上上升到27％，但在这一值时没有发生漏判。 笔者又用同样的方法将这块PcBA板在一国产AOI品牌上做同样的试验，结果如下： I NG数 4 3 5 6 7 8 9 10 11 12 17 I重复数 2 2 5 1 3 2 1 1