典型FLASH存储器_60_Co_电离辐射效应测试与分析.pdfVIP

第38 卷 第1 期 核 技 术 Vol.38, No.1 2015 年1 月 NUCLEAR TECHNIQUES January 2015 60 典型 FLASH 存储器 Co γ 电离辐射效应测试 与分析 1 2 2 宋 卫 曲 狄 吾勤之 1 （上海航天电子技术研究所 上海 201109 ） 2 （上海航天技术基础研究所 上海 201109 ） 摘要 通过测量卫星用FLASH 存储器的内部存储数据逻辑状态出错(WW≠0)、电源电流、输出高低电平电压、 输入漏电流以及交流参数随辐照剂量的变化情况，对FLASH 存储器的电离辐射效应损伤规律、敏感参数进行