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Talysurf CCI Lite - Non-contact 3D Profiler PRODUCT Automated small footprint optical measurement system 全自动光学测量系统 Talysurf CCI delivers results you can trust with industry leading performance... 强大而稳定的Z轴扫描 快速自动XY平台与Z轴聚焦 灵活的Z轴范围-2.2mmZ轴范围（缝补功能10mm） 精确的数据点-标准配置超过百万的采集数据 简单-对所有表面都只需要一种测量模式 基于世界领先相关相干计算法的新一代光学干涉仪 优越的光学测量结果同时适应精密工业测量与研究部门 扫描干涉 The Talysurf CCI Lite 是一台先进的光学干涉 仪，它采用了创新的，专利的相关相干算法， 去寻找通过光学扫描得到的干涉图象中的一致 点与相位。 灵活性 Matt black surface without data restore The Talysurf CCI Lite 对于高精度的3D测量 而言是无价的，通过采用不同的物镜头，可 以检测不同的表面，全自动的工作台能适应 高水平的灵活应用。 所有的表面都能够被检测 Talysurf CCI Lite的好处还在于它的多功能 性，无论是抛光，粗糙的，曲面的，平面的 Measurement of SIMS Creaters 或者台阶表面，只要反射率在0.3%到100% 之间，都可以在同意模式里测量，而不用担 心功能性的错误。. 各种材料类型都可以被测量，如玻璃，液体， 照片，金属，复合材料及粘膜。 数据分析 表面能够使用国际通用的数据，被量化地分 析三维与二维的表面数据，区域与容积数据 Diamond turned surface - measured using Diamond turned surface - after form removal auto fringe find and auto range • 120种E二维参数，40种三维参数alysurf CCI Lite System Specifications系统参数 • 计数与分类 测量方法 相关相干算法 • 自动台阶高度测量t Z轴测量范围 2.2 mm as standard (10mm with Z stitchiing) 自动操作 Z轴分辨率 [max] 0.01 nm [0.1 Å] 标准的自动控制，可编程的XYZ平台及自动 噪音Noise floor (Z) 0.08 nm [0.8 Å] 1 聚焦，能够非常容易地测量单一表面或复杂 RMS重复性精度 0.02 nm [0.2 Å] 2 形状。XYZ缝补功能更满足了形状陡峭的表 测量面积 (X, Y) 6.6 mm (75mm with XY stitching) 面与大面积测量的需要。 测量数据点 (X, Y) 1024 x 1024 standard