10、瞬态光谱测量技术--王加文.pptVIP

瞬态光谱测量系统如图1所示，采用光电手段，通过一次闪光获得光源辐射光谱。 具体工作原理是：被测光源通过分光后，在 CCD 表面成像，进行光电转换，然后经放大电路放大, 被放大的模拟信号再经过控制系统进行 A/ D转换和数据采集，最后由微机进行数据处理，通过监测系统输出测试结果( 包括相对光谱功率曲线、色坐标、主波长、色温、色纯度、显色指数等) 。 瞬态光谱测试光学系统组成 1)闪光光路系统 闪光光路如图2所示。闪光光路为一专用闪耀光栅摄谱仪。其作用是将从入射狭缝射入的复色光色散成所需的光谱带，再聚焦到出射狭缝外成像于探测器的光敏面上。 2)探测器件 根据所测波长范围的不同，选用光谱响应不同的CCD作为列阵探测器件，同闪光光路配合使用。探测器件由列阵光电转换器件(CCD)、驱动电路和处理电路三部分组成。其功能是将在光谱面上并行排列的光谱带转换成为与光谱分布强弱成正比的串行光电信号输出。 3)微机系统 微机系统与探测系统之间所用的模数转换电路须采用程控手段，以便控制进入转换器前放大电路的放大量，确保模数转换电路在高精确度的中心数字区进行运转，使强光谱区大电荷数据不会溢出，弱光谱区小电荷数据能采取多次曝光的办法采集到，从而得到高精度相对光谱强度的测量结果。 以硬软件手段保证闪光这一高速测量过程的全自动化操作，用程控手段保证探测器驱动电路、处理电路、模数转换电路以及光电转换器件的电器元器件在其性能最佳的高精度区进行运转，确保测量数据的精度，微机应具备不低于5套测量数据的容量；微机除承担测量中的全部数据采集处理外，还应配有提供所测结果曲线和有关数据显示、输出的外部设备。 瞬态谱信号值的产生机理 瞬态光谱测试中的线阵CCD ，其在有效积分时间内接收到来自两个像元的辐射量子数分别为n1和n2，这时CCD成像系统能否分辨出这两个像元，取决于n1与n2的差异，这一差异就代表了瞬态光谱细节的信号。其瞬态光谱信号值可表示为： S = n1- n2 如取相邻的两个有亮暗差异的像元，像元是边长为h的正方形，n1为亮像元， n2为暗像元，其亮度分别为L1和L2，且L1 L2 L1= dΦ/(dΩd A cosφ) 式中，Φ表示像元发出的光辐射通量，Ω表示立体角，A表示像元的面积，φ表示像面法线与探测面法线的交角。 则CCD成像系统接受来自亮像元的辐射通量为： 如光电转换的量子效率为η，有效积分时间为t ，取Q表示每流明光通量在每秒所通过的光子数。对于白光(取其有标准A光源的光谱分布) 的Q值近似等于1. 3×1016/lm.s。由此可列出CCD成像系统在有效积分时间内接收亮像元辐射的平均光子数为： 同样过程,可求出CCD成像系统在有效积分时间内接收暗像元辐射的平均光子数为： 由CCD成像所获得输出的瞬态光谱信号S为： CCD成像所输出的瞬态光谱噪声表达式 关于瞬态光谱的量子噪声，由于它是CCD进行光电转换所固有的量子性而产生的，故不能排除。这一噪声的产生原因与光子噪声类似。CCD进行光电转换的量子产额也符合泊松分布律。由于CCD成像所输出的亮暗两个像元都伴随有量子起伏噪声，因此其差值的起伏噪声可以利用概率公式求得。CCD成像输出的瞬态光谱噪声N的表达式： 光电成像输出的瞬态光谱信噪比 用调制度 C=(L1-L2)/(L1+L2) 和平均亮度Lm= ( L1+ L2)/2代入，得 上式即是理想的CCD成像所获得输出的瞬态光谱信噪比公式。 如这一信噪比大于接收器所需的阈值信噪比 (S/N )min时，表明理想的CCD成像可以探测到当时的瞬态光谱，根据所述条件，其关系式为： 为便于对上式的讨论，设光电成像系统接收孔径的半径为r ，像元与光电成像系统的间距为d ，像元对光电成像系统的张角为α(即图像视角)，则上式中的 分析式子可知，公式中有两类参数，第一类参数是表征图像的参数，包括有图像平均亮度Lm，图像调制度C，图像视角α；第二类参数是表征光电成像系统的参数，包括有光电成像系统的光电转换量子效率η，光电成像的有效积分时间t和CCD的光敏面h2。 光谱信噪比与第一类参数和第二类参数都成正比，所以提高任一参数均可提高信噪比。如可通过提高量子效率 η、增大积分时间t、以及扩大CCD面积来提高信噪比值。 通过对CCD光电成像量子效率的分析，为在瞬态光谱测试的研究过程中，如何提高光电转换的量子效率提供了可靠的理论依据：强光的情况下如何抑制信号，在弱光的情况下如何放大信号，提高信噪比，从而最终达到提高测量精度的目的。 图3所示为两种通过改变电极材料以及氙气