掺杂Y2O3氧化锌压敏电阻陶瓷的显微组织及电性能.pdfVIP

掺杂Y舡氧化锌压敏电阻陶瓷的显微组织及电性能 末粒径均为200目(约731am)。 采用不锈钢球、尼龙罐，在行星式高能球磨机中加乙醇湿磨，转速500 rpm， 球粉比20：1。球磨5h后，将浆料在200℃烘干。在同样条件下，将烘干后的 粉末干磨lh，以消除较大的粉块。用万能液压机将粉末单轴压成直径10mm、 厚度2mm的圆片后，放于炉中在800℃、空气气氛下烧结2h，加热速度5℃／min， 炉内冷却。 用X射线衍射仪(D／max2550V,Cu．KC1)分析样品的相结构，电子探针 (JEOL 成分。氧化锌平均晶粒尺寸(D)通过显微组织照片测量来确定，测量晶粒个 能，在烧结圆片的两个表面被银，600℃下烧成电极。测量样品在1．0mA和0．1mA 流在0．75 HmA下测量。冲击电流测试在8／20ps冲击电流发生器上进行，采用 8／201as，5kA冲击电流冲击试样。在冲击电流发生器上读出残压值Kkv。’试样 体积采用尺寸测量方法测出。采用压敏电阻直流参数测试仪测出冲击前后HmA 及，L变化。 采用晶界缺陷模型11】来计算施主浓度(Ⅳd)、势垒高度(多B)、界面态密 有关，即发射电流密度： ．，：A丁2e(廊％一妒B)，玎 (1) boltzmann常数，T为绝对温度，夕为与势垒宽度有关的常数，由下式决定： (2) r∞4兀￡。￡． 肘去杀)； 式中，r．为单位长度的晶粒数，∞为势垒宽度，e为电子电荷，fo为真空介电常数 (8．85×10-14F／cm)，￡，为相对介电常数(氧化锌为8．5)。将丁固定在室温，作 lnJ-E忱图。妒B可从回归线与In．／轴线的截距来获得；常数夕可从图形的斜率获 得；r．由SEM的测量获得；∞由(2)式求出。Ⅳd由下面表达式【l2】求得： 0)2=—2—《0_=B-￡—o—Er (3) e2Nd ·9‘ 纳米科技发展——2006年上海纳米科技与产业发展研讨会论文选 3结果和讨论 20 t。) 图l氧化锌压敏电阻Y1～Y4在800C烧结2h的x射线衍射谱 些背散射电子图像由四部分组成：灰色、白色、灰白色与黑色区域。白色、灰 合XRD分析表明，白色区域为富Bi相，灰白色区域为尖晶石相，灰色区域为 ZnO相，黑色区域是在烧结及试样抛光时形成的孔隙。由图2可看出：①掺入 入量的增多，富Bi相与尖晶石相混合的程度在加大，这可能是由于 Bi—Zn．Sb．Y-O相数量增多造成的。 图4给出了氧化锌压敏电阻陶瓷电位梯度、密度与Y20。含量的关系。随Yz03 高于未添加的。．电位梯度随Y20。含量的增加而逐步提高，当Yz0。含量为0．10 m01％时，电位梯度达到最大值2197V／硼。 ·10· 掺杂m氧化锌压敏电阻陶瓷的显微组织发电性能 图3图2(d)巾小间选区的X射线能谱分析 (a)A指示区；(b)B指示区：(c)c指示医 纳米科技发展——2006年上海纳米科技与产业发展研讨会论文选 ^ 营 El} ≥ 沸 v ^ 趟