一种并行输出折叠计数器方案.pdfVIP

第六届中国测试学术会议论文集(CTC2010)·中国合肥·2010年7月 一种并行输出的折叠计数器方案 李松坤”梁华国2’吴义成1’易茂祥对 1)(合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009) 2)(合肥工业大学电子科学与应用物理学合肥230009) (1isongkun50586@163．corn) 摘要提出了一种并行输出的折叠计数器方素，这一方案是针对于折叠许数器结构做出的一种改进．折叠计数器作为一种测试 模式生成器取得了很高的测试数据压缩率。但由于其每个时钟周期只产生一位测试数据，故只能应用于单扫描链结构，这样就 会导致测试时问过长．建议方案通过改进折叠计数器结构使其实现并行输出，这一改进既能保持折叠计数器高测试数据压缩率 的优势，又能最大限度地降低测试应用时问，同时对应的解压结构简单规则． 关键词 内建自测试：折叠计数器：翻转控制 中图法分类号TP391 A countersschemeof folding paraUel-output Li Yi Huagu02’，Wu Maoxian92’ Songkun”，Liang Yichengn，and l《SchoolofComputerandInformation，HefeiUniversityofTechnology，Hcfei230009) ofelec们nic 硝School Science＆AppliedPhysics，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009) AbstractThis a countersscheme is towardsthestructure proposesfolding ofparallel-output,whichimprovement offolding paper achieved can thescheme countershas tothe structure counters．Althoughoffolding highcompressionratio,itonlyappliedsingle-chain forits onebitinoneclock hasrealizedthe thestructure counters, generating cycle．Theproposal paralleloutputtingbyimprove offolding whichcannot the also由thebesttoreducethetesttime．Besidesstructureofits onlykeephighcompressionrat-io,and these,the hardwareis tobe decompressedsimpledesigned． control counters；reversal KeywordBIST；folding 案【l】、一种选择折叠计数状态转移的BIST方案【2】、 约束输入精简的多扫描链BIST方案【3】等。文献【l】提 出了一种新型的测试模式生成器，其原理是运用测试 集成电路的发展已进入SoC时代，可将各种不同 模式问的折叠关系来生成相应的折叠种子，一个r／位 类型的IP芯核集成在一块芯片上，构成一个完整的系 的折叠种子可以生成n+1个测试模式，取得了很高 统，既能加