基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率分析.pdfVIP

乍j＆麟等： 甚jj{『抽的内建臼测试巾的测试0方的棱盏概串分析 基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率分析 半兆麟毛志刚叶以正 (哈尔滨工业大学微电子中心313信箱，哈尔滨150001) 囊要t在介绍测试生成结构的基础}：本文分析了蘑卜扫描的内建自测试中的测试立矗 的覆盏概率问题。并以LFSR作为测试向量生成器分析了LFSR的阶数k与扫描链长度m ◆ 之阳J的关系。从而确定了可实现最小硬件井销的最小I,FSR阶数1‘ln。 关键词：基于扫描的内建自测试．测试直打，LFSR ◆ 一、引言 basedBujJt．1n 玷f¨描的内建自测试(scall Self-Tes卜-一BISY)利用线性反馈移位寄 仔器(LFSR)作为测试向量生成器，利用多输入移位寄存器(MlSR)作为测试响应』K缩 器。其本质就是利用BIST来完成扫描测试方法中的ATE的功能。由卜浚方法实现的原理 简单，BIStl引入的硬件开销不大，H易丁|自动综合软件综合实现．冈而受到r广泛地蘑视 和采_}lj…。 为了实现高质量的测试基于扫描的内遵自测试必须满足高故障覆盖率的特性。在基『． 扫描我内建自测试中通过测试向最生成器串行地把GF(2)的序列移入扫描链中构成输入向 量。如果在输入向量集合叶l能够覆盖对应故障的测试证方，则相应的故障亦就被检测了： 因此在基r扫描的内建内测试中测试盘办的覆盖分析对于指导基}扫描的内建自测试的设 计具有}|分煎要的意义口}。本文首先介绍了基本扫描的内建自测试的测试结构。并以LFSR 作为测试向最生成器分析了LFSR‘，扫描链在测试向量申成方面的关系，得出了利用k阶 LFSR往m位长的扫描链巾生成的输入向量具有伪随机特性。在此基础上本文给出了L个 随机向量情况F的测试立方的覆盖概率，从而进一步确￡定了Ⅳ实现罐小硬件开销的最小 LFsR阶数kmm。 二、基二}扫描的内建自测试的测试向量生成 摹r扫描的内建臼测试的测试结构见圈l，其巾m表示扫描链的长度。被测电路的扫 描设计lI『以是全扫描或部分扫描设计f1”，也可以足边界扫描设计”,61。从图l中可以看出每 经过m个时钟周期测试向量生成器串行地把4个tXl位长、GF(2l的序列移入扫描链中构成 输入融越施加给被测电路．而后响应信号进入扫描链移出脏缩。由上述描述可知为了实现 赫的故障覆盖率要求对应故障的测试屯_：疗尽可能地可以被上述的输入向量集合所包含。矮 中目标测试立方可由ATPG生成。 。——1■_一 图1基j二¨描的内建自测试的结构 CFTC．8论之集 下面取+个3位长的j一{插链的实例柬Jl体说明测试向量生成的T作情况。 匝互亟卜(固 {…匾l ：．i…圃 测试向量生成器采JIJ伪随机测试向链乍成器．如LFSR。每经过一个时钟周期伪随机 测试向量生成器生成‘个伪随机础．谖码的域右饨串打移入扫描链中。经过3个时钟周期 后扫描链中被移入‘个输入向餐(100)。吲样再经过3个时钟周期扫描链义被输入(1JO)。因 此每经过3个时钟周期伪随机测试向最’卜成器就向扫描链中串行移入卟输入向最。在基 千扫描的内建自测试中测试向最分折的荚键在』二输入向量集合对特定的测试谩方的覆盏。 三、基于LFSR的测试向量生成的特性分析 LFSR是典型的伪随机测试向馘生成器，所以本文