工业X-CT用闪烁晶体性能的Monte+Carlo模拟研究.pdfVIP

第j篇 蒙特卡罗方法应用 l探测原理及计算模型 在工业X．CT系统中，对X射线的探测可以有多种探测方式，但是从获取或采集X射线数据的方式看， 测而言，通常以线性阵列探测为主。图1即是目前工业X．CT中探测X射线的线阵数据获取的一种典型方 式原理示意图。 廿一 图I 一种工qkX—cT巾探测X射线的线阵数据获取原理示意圈 fan-beam and detector Aform data basedon linear Fig．I ofx-myacquisition scanning array 应、康普顿散射和电子对效应而损失能量，并以光的形式为后端光电器件所探测。X射线能量低于IMeV 时，其相互作用主要是光电效应和康普顿散射，如发生的作用是光电效应，就直接计算收集电荷；如发生 康普顿散射，计算散射光子的能景，计算收集电荷，并把散射光子作为入射光子重复计算。某一个光予与 闪烁晶体发生的作用类犁是随机的，但其几率受它的作用截面的限制。