电子线路IEMP效应计算机模拟技术的研究.pdfVIP

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电子线路lEMP效应计算机模拟技术研究 詹峻岭 (中物院电子工程研究所成都517信箱11分箱610003) 钟洪声 (电子科技大学704 610054) j商要 在内电磁脉冲(IF2dP)环境下工作的电子系统,将受到IF.MP的损伤.电子系统中 大量采用集成电路.而集成电路对电磁脉冲比较敏感.往往一个较大的电磁脉冲,会使集成 块产生误码甚至烧毁.本文主要介绍了IB母在a10s集成电路上的电磁干扰以及计算机模 拟.模拟时,IEMP采用高空核爆产生的哪护公式来近戗表征.选2000门门阵列FPGA芯片 中的单元电路为模拟对象.根据c如s集成电路I盥伊损伤的失效机理及法拉第屯磁感应定律 推导出感应电动势的计算公式,建立c啪6集成电路的电路模型。模拟并分析IEIIPI粤应出的 干扰脉冲通过输入端.输出端及电源端,耦台进单元电路后对该电路造成的影响,最后对应不 同的引线长度得出使集成电路产生瞬态损伤和永久性损伤的电场峰值. 关键词内电磁脉冲(IEIcP)c瞄集成电路电磁干扰损伤计算机模拟 1. 引言 在电磁脉冲环境中工作的电子系统,总会受到电磁脉冲的干扰。当前的电子系统 中大量采用集成电路.而集成电路又是对电磁脉冲比较敏感的器件。随着大规模集成 电路和数字技术的飞速发展,现代集成电路的集成度越来越高,CPU的工作电压已经 调到2.8V,因此,往往一个能量不算很大的电磁脉冲都会让集成块产生误码甚至烧 毁,本文只模拟内电磁脉冲(IEIlP)的电感和磁感使电磁能量耦舍进入CMOS集成电路 所造成的损伤. 删oS集成电路的损伤包括瞬态损伤和永久性损伤两个方面,这就是它们的敏感 性。敏感性的定量分析称敏感度,是一个较为复杂的问题。不论引起瞬态干扰还是永 久性的损伤,其敏感度既与部件、元器件本身的性质有关,又与其对什么样的电磁脉 ,: 冲环境响应有关。有些元器件的永久性损伤或瞬态损伤,,仅决定于脉冲电压的大小, 但多数元器件可用耦合进入该器件的能量作为表征瞬态损伤或永久性损伤的敏感度, 这就和电磁脉冲及其在元器件的响应有关.对内电磁脉冲(IE)损伤的计算机模拟 技术研究。主要应对元器件或分系统进行定量易损性预估,因此,必须知道它的电磁 脉冲失效闽值。鉴于某种集成电路系列内的器件具有相似的端特性和相同的电压,可 以按系列和实验端对,对集成电路的电磁脉冲失效阈值分类. 2. CMOS集成电路的电磁脉冲损伤机理分析 任何CMOS集成电路的版图都是金属线、肿s管及多晶硅交叠而成,因而构成一个 个大小不一的回路。根琚法拉第电磁感应定律,在磁场中~闭合导体回路当穿过其磁 通量变化时,回路中将出现电流,表明回路中感应了电动势,感应电动势的大小等于 磁通的变化率。故当集成电路处在一交变电磁场中时,各个圃路上就会感应出许多大 詹峻岭钟洪声:电于线路IEMP效庶计算机穗拟技术研究 小不同的感应电动势,并由此对集成电路产生影响。 当干扰耦合进电路时,它的感应电动势对输入端造成影响,当其大纠一定程度 时,就可导致输出端逻辑值的改变,即由“1”变为“0”或相反,从而产生误码,当 干扰消失后或者复位后,电路还可恢复正常工作。这种失效是暂时的,属于瞬态损 伤。C∞s集成电路永久性失效的机理是热效应,主要包括金属引线烧毁和栅氧化层击 穿两种情况,集成电路中的F管间的连线是采用金属铝,对通过的电流规定门限值, 当叫P耦合进电路,产生微量电流使电路导线上的值超过其门限值时,导体中的原子 离开原来的位置,沿电流方向运动,若导体中存在一缩窄区,导体中的原子会以较快 的速度移向这缩窄区,导致这个缩窄区象保险丝一样烧断,这样就造

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