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数字式控制器影响下的结晶过程的模拟算法.pdf

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数字式控制器影响下的结晶 过程的模拟算法 Ken—Ich i r O s O 0W J a t a D一3 摘要: 具有移动节点的特征方法非常适合带有数字式控制器 的结晶器的模拟。不过,为了避免节点数的过量增加,这 赫 方法要与某种网孔删除规则一起使用。本文根据减少计 算时间的原则,比较了各种节点删除规则。结果表明:当 采 用以节点距离为基础的节点删除规则时,可大大地减少 节点数和计算时间。 关键词: 特征方法 结晶 模拟 l 简介 在设计控制器时、有必要用数字模拟来检验它们的性能。 由于 控制 DCS系统的传波,数字控制器已被化工行业普遍使用。因而, 器性能评估的模拟算法应满足在一定时间间隔记录/改变 状态 变量.以便模拟这种数字控制行为。当评估结晶器性能时, 该法 必须能够精确地模拟粒度分布行为。描述晶体粒度分布动 态的 粒数衡算方程通常用有限差分法求解。然而,由于粒数衡算 方程 的双曲线特征,因此差分受数值分散的干扰很大,以致得出 错误 的控制器性能评估结果。 已 特征方法是一种适合模拟双曲方程的数值方法。它 成功 nd l r s 0 a 0 a ph和L 法模 地应用于结晶器模拟。R 11用特征方 拟了生长速率与粒度大小无关的结晶器模型。该方法其时 间步 要调 长为缸,网孔大小为缸、晶体生长速率g=Ax/At。由于该法需 整时间步长以适应生长速率的变化,因而需要采用特殊算 法考 虑不连续控制行为。 本研究着重另一种特征方法。固定时间步长而改变每一时 问步长下的网孔节点位置。该法对于带有数字式控制器模拟很 有吸引力。 因为它不受数值传播的影响,并能适合数字控制行 为。然而,固定△f比固定缸所需计算时问更多,这是由于模拟中 .节点数增多的缘故。本文研究讨论不同的网孔删除规则以减少 计算时问。 2. 带移动节点的特征方法 21 概念 方程1为结晶器中CSD典型的粒数衡算方程。其中n,g(t,x)和f (n,t,x)分别为CSD,晶体生长速率,晶体移出项 (1) 等+g(1,X)要+m,o)=0 们tYX 在固定血的算法中,晶体粒度轴向X根据一定规则进行离散化。 10 步长时间用生长速率g来计算,即为某一特征曲线通过一个节 点到相邻节点的时问。如图l(a),采用一级近似得出如下差分方 程: At(2) n(A’)=玎(4)一,(疗,r,r)L 固定△f法,根据t时间内晶体生长量重新定位每个节点,从而获 得特征曲线,如图(1)b所示。 开始时,起始分布用适当分布的节点来表示并决定t值。在每 一个时问步长下,从一节点的晶体粒数密度根据方程(2)更新为 当前值。 当在时间t时的第j个节点的位置为x。则节点重新定 位规则为: (3) x“出.,=xf,,+缸r,,=xf.,+g(t,xf,,)At 再次迭代时,一个具有核粒数密度值的新节点置于X=0处。由于 时间步长△f可以随意设定,应而对于模拟离散控制器来说该方 法具有吸引力。另外、该方法可以处理通常形式的

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