用于剂量当量率仪的电离室.pdfVIP

’98全国辐射防护学术研讨会论文汇编 1998年11月 用于剂量当量率仪的电离室 李景云 郭 文 侯金兵 (中国原于能科学研究院，北京，102413) 摘要本文介绍了准备用于剂量当量率仪的电离室的初步结果．对于H。(10)和H’(10)的能量响应 keV～1．25 keV～250 分别在30 MeV和8 keV与转换函数在10N内相匹配}在一定方向上经过仔细补 偿能达到5％．可以作为次级仪表使用． 关键词电离室剂量当盈率 l引言 开始几乎就被各国和国际组织接受。这样，辐射防护仪表的能量响应基本上应和空气比释动能到剂 最当量的转换函数一致，其角响应对于测量H。(10)的应是各向同性的，而对于定向剂量当量应符 合ICRUt23给出的响应。 但是，目前国内现有的辐射防护仪表都不能直接用来测H。(10)和H’(o．07)。电离室型的仪 表多为建立在空气等效室壁在电子平衡条件下测照射量，或经简单的单位改制测空气比释动能 K。。而且，必经能量分段使用，这样，在不明辐射场很难说会带来多大误差。严格地说，这种仪表并 不是辐射防护仪表。计数管和闪烁体仪表也许更适宜测H’(1 o)，～些单位已作了很好的研究。 2原理 改变电离室的能城响应使其与世。到H。(10)和H‘(o．07)转换函数相匹配，目前都是使用复 合材料实现[3’“。即在空气等效材料中增加适当的重原子序数材料，如铝(z一13)，提高低能部分 光电效应的份额。实现的方法大体上有三利t：一是在电离室的内壁或中心电极敷一定份额的高原子 序数材料，或整个中心极作成高原子序数材料I二是将高原子序数材料和空气等效材料粉末压合成 均匀复合体材料，第三种方法是整个电离室内壁都敷以薄层高原子序数材料．对于前二种方法是通 过计算和实验控制高原子序数材料的量，而第三种方法是计算和实验控制高原子序数材料的厚度， 使得对于低能x射线光电效应增加，对于高能x射线，不但由于这部分材料相对量少，也由于以康 谱顿效应为主，起的作用很小，从而达到很好补偿。 尽管认为第三种方法较好n]，但对我们还是有一定困难．主要是找不到适合厚度的铝，而且我 们的实验结果也不能令人满意。另外，单独用铝很难作到很好的补偿，在200keY附近响应偏低， 所以还要在补偿中增加～些更重的元素，产生更多的次级电子，将它的响应提上来，文献[4]是增加 keY附近的低响应。 适当的Bi，我们则是利用cd，补偿200 李景云等：用于剂盘当量率仪的电离室 3实验方案和结果 3．1电离室和实验条件 mm×120 电离室用PMMA制成，外部尺寸为彩90 mm，室壁厚度为5 mm，内表面涂石墨，采 mm×95 用前面说的第一种方法补偿，即中心极为彰15 mm铝管制成，厚度为0．3 mlTl，以减小阴 影效应增加低能响应。电流测量是用本实验室以FJ-356静电计为主的电流测量系统，参考辐射为 IS04037—1窄谱系列和”7Cs、60Co以及Sn、Mo、Zr荧光辐射。 3．2 H。(10) 上面电离室的响应已经相当好，但正如前面所说在200 keV附近偏低，为此又在中心极外表面 加上一定面积的Cd(厚度5Z mg·cm_2)，最后得的垂直电离室轴向入射的结果如图1所示。 对于电离室前端沿轴向入射，是在其内壁上敷以一定面积同样厚度的cd片，并调正其响应与 轴向一致，结果也如图1所示，结果以”Cs响应归一。