分时高速S％(L％)软X射线能谱仪测量高温等高子体的电子温度与重金属杂质含量.pdfVIP

第9届全再棱电子学与棱探酒技术学术年会论文集 o。I_lfer舶∞∞Nud鲫E懒嘲＆№晰D删啪Tec}嘣ogy Pr蝴e婚of’he帅№lI嗍I 分时高速si(Li)软x射线能谱仪测量高温 等离子体的电子温度和重金属杂质含量 杨进蔚 曾庆希 张炜 张光阳 (核工业西南物理研究院，成都t32信箱。6100t1) 率文教述丁用三探头跚(u)暴咎探测善测量mr—lM托卡马克等青于体疆舯的软x射线麓瞥．得到等 离子体曩度以盈t金属杂质水平随时f田变化．胄翻‘096道快超分时多道分析器，其时同分辨可迭50_．每次 放电可涓16个谱．每十誊2s6道．撵潮系统的蕾量舅量范墨1．2s～25hv之间． 关t调t(u)纛移探测嚣簌x射蛾丝谱 ， 1引言 利用高温辱离子体自身辐射的x射线作为诊断工具。为潮t等离子体重要的物理参数和 热校聚变研究提供了便利的诊断手段．特别是热棱聚变的研究方向己集中刭等离子体中心区 域并向堆芯模搜方向发晨的今天．X射线更适合于探测大中型托卡马克芯部区域的物理参数 和聚变衍生的物理过程而梭广泛使用。其中x射线能谱法多年来一直用于电子速度分布、电 子温度【l】，cr、Fe、Ni、Mo等I金属杂质古量．有效z测量．如果拓宽测量系统的能量测量范 围，还可得到：茂连电子行为、逃逸率、迸遗电流、电流驱动效果、超热电子速率分布、超热电子温 度、辅助加热时的能量沉积等方面的数据和信息嘲． 2实验测量系统与标定 圈1诊断窗日及信号花程示意豳 本试验采用三探头Si(u)漂移探测器。其目的在于提高测量精度，降低测量涨落误差以及 园等离子体位移引起的测量误差．并且因每个探潮器对应的吸收片和准直孔孔径可选择，因此 386 可保证每次放电均可采集到软射线能谱．测量系统包括诊断窗口、电子学系统、数据处理系统． 其中诊断窗口包括真空密封姣窗、波纹管、闸板阀、可变孔径准直孔、可变厚度吸收片组、绝缘 段及真空系统，如图1所示．准直孔孔径分别为f2mm、≯4mm、≯6mm三组，可调节吸收片为 无吸收片、30肛-镀箔、50肿镀箔三组，用精密的轨道和定位销保证铰宙．准直孔、吸收片、探 测器在同一直直线上，其误差不超过o．2nlⅡl，三探头成水平排列，间臣13mm，均对准等离子 体芯部，三探头所测到的数据经平均后得到较精确的电子温度和重金属杂质含量，减少测量误 差． 电子学部分包括高分辨低嘬声电荷灵敏前放，反堆积谱放大器、谱增强器、多道分析器、分 时器、徽机及高低压电源．信号流程见图1．其中自制多道分析器为4096道．并以256道为一 个谱，可通过分时测量开关选择分时测量时间(50～450ms)，每个谱的测量持续时间为兀时间 间隔测得的谱位于o～255道谱段，第二个时间问隔以内测得的谱位于256～5ll道谱段，其 余依此类推．当测完16个谱后自动关闭t多道分析器的时钟频率为100MHz，工作在256道时 A／D速度可达2坤． 探测系统在实验开始前先在实验室经严格的 标定，仔细选择标定的试验参数，如偏压、放大倍 数、成形时间、反堆积方式、道宽等，并在实验现场 测量中保持这些参数不变，尽可能减少测量误差． 标定放射性参数辑Fe(5．9keV)、CuKd(8．04kev) 郧(8．91kev)、RbKn(13．37kev)郧(14．97kev)、 MoKa(17·44kev)邸(19．63kev)、AgKa(22． 10keV)Kp(24．99keV)的能谱见图2．其中探测器 对”Fe的能量分辨3％(177ev)，三个探头与其对 应的电荷灵敏前放和谱放大器的能量与脉冲幅度 雷2标定源能谱 分析系统的刻度关系见图3．表明探测系统的脉冲幅度与能量之间有极好的正比关系，由图3 道盘 3电子温度测量 图3三个探头能量与道数之闻的劐度关系 等离子体中软x射线辐射主要有韧致辐射、复合辐射及线辐射。前两种辐射构成软x射 387 线连续谱。而线辐射则叠加在连续谱上，韧致辐射与复台辐射之和表示为 dW／dE一3×10-15X托拙ziL-1门朋旺p(一