光电倍增管在辐照下的稳定性的研究.pdfVIP

第9届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集 oftIle Pro。刚119s 光电倍增管在辐照下的稳定性研究 张松寿 (防化研究院，北京1044信箱200，102205) 本文简敢了光电倍增f在辐照下的穗定性矸究培果·对几种蕾产光电倍增f进行了捆试比较·结果表明 只有在辐愚条件撼试选舞．才柏保证在辐照下的稳定性． 美t调t光电倍增蕾辐晨辐射探嚣内烁探潮嚣 1问题的提出 光电倍增管是闪烁探测器的主要组成部分，虽硅光电二极管等和闪烁体可组成闪烁探测 器[””．但在大多数条件下还是采用光电倍增管和闪烁体组成闪烁探测器．因此，光电倍增管 的性能和水平将直接影响或决定闪烁探测器的性能和水平．从而影响和决定探测仪器和设备 的性能和水平．因而设计和研究者都十分关注光电倍增管性能和选用． 对于光电倍增管的选用原则和测试方法已比较成熟。虽无统一的国际或国家标准H】，但根 据生产厂家的产品标准和实际的使用要求是可以选择到合适的臂型的t并通过监测和挑选确 定需要的管子，一般情况下是能够满足要求的，这也是闪烁探潞器得到广泛使用的基本前提． 对于光电倍增管的电性能指标和使用要求，生产厂家都有明确的说明“．饲如极限参数和 推荐工作参数等．对光电响应和转换性能都一一列出，但对辐照条件下性能就很难具体列出， 辐射作用于闪烁体产生光被光电倍增管吸收倍增放大产生电信号输出．因此在光电倍增管的 性能指标和测试中未能实际体现这—性能，只有在同辐照的联合试验中才能验证这—性能． 在我们的研究中发现某些型号的光电倍增管在辐照中产生了不穗定现象，我们研究的试 有较好的稳定性外，其他几种管子多数出现了在辐照下的不稳定现象，其表现为正常的预热和 工作条件下．在恒光辐射照射下，其输出结果连续上升和下降，变化范圈为百分之几到十几，这 就影响了辐射探测中的使用，特别是在快速的高辐射场中的连续测量，所以必须研究和克服这 一问题．这正是本研究的缘由． 2测试方案及原理框图 本研究是在一个系统研究所需的闪烁探测器 方案基础上进行．的．由于遇到了在辐照下出现的 不稳定性，才进行丁本研究．所以选择原测试方 案，在同样谢试条件下(辐照强度、测试范圈、闪烁 体等)，对同种光电倍增管进行辐照测试，比较选 圈1舅试原理方框图 择，优选出符合要求的管子．对不同型号的光电倍增管亦配适当的闪烁体在辐照条件下进行测 106 试、比较和选取．测试原理方框图如图1所示． 本测试方案采用电流运用方案，即受辐照后经闪烁体光电倍增管输出正比于辐照强度的 弱电流，经1一F变换器变为大的脉冲信号，尔后被定标测试系统采集处理。 3测试结果 依据系统测试研究的需要，先后对GDBl5、GDB23、GDB52等光电倍增管进行测试比较． 此处仅给出GDBl5和GDB23的主要测试结果，测试结果分三种类型，即光电性能测试(由生 产厂家提供)、辐照下的稳定性凋试和耐辐照测试，其结果见表l～5． 衰l GDB坫光电性能涓试结果 f号 3． 4 5 6 阴撮光黑夏t度／n·lm-1 72 72 130 72 70 50 丽枉蓝光曼t度／p^·h一1 12 9．6 19 12 12 lO 衰2 GDBl5在卯雠G，／-辐愚下t定性嗣试结果 警号 l 2 3 4 s 6 7 8 阴极光照曼t崖^^·h叫 ‘6 60 ∞ 62 37 58 5‘ 56 朋覆蓝光夏t度／pA·hrl 9 lo 10 12 13 10 1l 10 旧楹光用夏t l电压，V 1150 盯o 950 9柏 860 1020 9lo 980 度(2∞^／h) 1．2 5 12 o．5 厶3 1 2’o