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数字电子技术实验 实验3.2 组合逻辑设计1 一、实验目的 1、学习数字电路的集成芯片的使用方法。 2、熟悉组合逻辑电路设计过程。 ３、初步掌握利用小规模集成逻辑芯片设计组合逻辑电路的一般方法。 二、实验仪器及元器件 1.数字电路实验箱 2.数字万用表 3. 数字集成芯片 (74LS00、74LS86、74LS54、74LS04) 三、实验任务 1、要求利用一片74LS00芯片（含有4个“与非”门）设计实现一个“异或”门电路。 2、实现自备电站中发电机启停控制电路设计，电路功能为：某工厂有三个车间和一个自备电站，站内有两台发电机X和Y，Y的发电量是X的两倍，如果一个车间开工，启动X就可满足要求；如果两个车间同时开工，启动Y就可满足要求；若三个车间同时开工，则X和Y都应启动，试用“异或”门（74LS86）、“与或非”门（74LS54）及“非”门（74LS04）芯片设计一个控制X和Y的启停电路。 4、实验数据测量：　　　　　 表１　任务1 测试实验数据 六：实验注意事项 1、电源端与接地端要正确联接,否则烧坏集成块。 ２、不可在接通电源的情况下插入或拔出集成块。 ３、 TTL集成块输出不允许并联使用（集电极开路门OC和三态输出门电路除外）。否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。 ４、TTL集成块电源使用范围为+4.5V～+5.5V,实验中要求使用UCC=+5V。电源极性绝对不允许接错。 ５、 CMOS门集成块电源电压VDD的范围较宽，在+3V～+18V都可以使用。 ６、 CMOS门集成块电源电压不能接反,规定+VDD接电源正极, VSS接电源负极(通常接地)。 七、实验报告要求 1、写出简要实验步骤及内容（列出真值表，写出最简逻辑表达式，画出逻辑电路图）。 2、自行列表记录所测各种数据。 3、分析数据，得出结论。 4、完成思考题。 四、实验内容及步骤 1、TTL集成门电路的封装 (a)外封装图 (b)四个2输入与非门引脚分布图 图3.1 14脚数字集成门电路 AB F =1 相同出“0” 不同出“1” Y＝A? B “异或”门 ２、 “异或”门的特点 特点 逻辑符号 表达式 名称 ３ 、用一片7400实现“异或”门的化简表达式 =1 3、74LS54 “与或非”门芯片管脚图 （１）对于74LS54多余的“或”门管脚必须接地处理,不得悬空。 （２）ＮＣ管脚８是空脚，不能使用。 电位（V） 1 1 逻辑状态 电位（V） 0 1 逻辑状态 电位（V） 1 0 逻辑状态 电位（V） 0 0 逻辑状态 VY （“异或”门） VB VA VX 1 0 1 逻辑状态 0 1 1 逻辑状态 VY VC VB VA 1 1 1 逻辑状态 0 0 1 逻辑状态 电位（V） 1 1 0 逻辑状态 电位（V） 0 1 0 逻辑状态 电位（V） 1 0 0 逻辑状态 电位（V） 0 0 0 逻辑状态 表２　　任务２测试实验数据 五、实验电路图 根据上述原理由学生自行设计并绘制： 实验任务1、实验任务2 的逻辑电路图。