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第四章 X射线光谱与电子能谱分析法 一、概述 generalization 二、X射线与X射线谱 X-ray and X-ray spectrum 三、X射线的吸收、散射和衍射 absorption, diffuse and diffraction of X-ray 一、概述 generalization 电子能谱分析 共同点 二、X射线与X射线光谱 X-ray and X-ray spectrum 2.X射线光谱 （2）X射线特征光谱 跃迁定则： 特征光谱——定性依据 莫色莱定律 特征X射线谱的频率（或波长）只与阳极靶物质的原子结构有关，而与其他外界因素无关，是物质的固有特性。1913～1914年莫色莱发现物质发出的特征谱波长与它本身的原子序数间存在以下关系： 根据莫色莱定律，将实验结果所得到的未知元素的特征X射线谱线波长，与已知的元素波长相比较，可以确定它是何元素。它是X射线光谱分析的基本依据 小结 三、X射线的吸收、散射与衍射 absorption, diffuse and diffraction of X-ray X射线与物质的相互作用 X射线与物质的相互作用，是一个比较复杂的物理过程。 一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果，并且吸收是造成强度衰减的主要原因。 光电效应小结 X射线的吸收 元素的X射线吸收光谱 2.X射线的散射 （2）非相干散射 小结 3. X射线的衍射 Bragg衍射方程及其作用 内容选择 * * 第一节 X射线和X射线光谱分析 X-ray spectrometry and electron spectroscopy X-ray and X-ray spectrum analysis X-射线：波长0.001～50nm； X-射线的能量与原子轨道能级差的数量级相同； X-射线光谱 X-射线荧光分析 X-射线吸收光谱 X-射线衍射分析 X-射线荧光分析 利用元素内层电子跃迁产生的荧光光谱，应用于元素的定性、定量分析；固体表面薄层成分分析； 电子能谱分析 紫外光电子能谱 X-射线光电子能谱 Auger电子能谱 利用元素受激发射的内层电子或价电子的能量分布进行元素的定性、定量分析；固体表面薄层成分分析； (1) 属原子发射光谱的范畴； (2) 涉及到元素内层电子； (3) 以X-射线为激发源； (4) 可用于固体表层或薄层分析 1. 初级X射线的产生 X-射线：波长0.001～50nm的电磁波； 0.01～24 nm ； (超铀K系谱线) ～ (锂K系谱线) 高速电子撞击阳极(Cu、Cr等重金属)：热能(99%)+X射线(1%) 高速电子撞击使阳极元素的内层电子激发；产生X射线辐射； （1） 连续X射线光谱 电子→靶原子，产生连续的电磁辐射，连续的X射线光谱；成因： 大量电子的能量转换是一个随机过程，多次碰撞； 阴极发射电子方向差异，能量损失随机； 特征光谱产生： 碰撞→跃迁↑(高) →空穴→跃迁↓(低) 特征谱线的频率： R=1.097×107 m-1,Rydberg常数； σ核外电子对核电荷的屏蔽常数； n电子壳层数；c光速；Z原子序数； 不同元素具有自己的特征谱线——定性基础 。 (1)主量子数? n≠0 (2)角量子数? L=±1 (3)内量子数? J=±1，0 J为L与磁量子数矢量和S； ? n=1,2,3，?线系, ?线系, ? 线系； L→K层K?； K?1 、 K?2 M→K层K? ； K?1 、 K?2 N→K层K? ； K? 1 、 K? 2 M→ L 层L? ； L?1 、 L?2 N→L层L ? ； L ?1 、 L ?2 N→M层M?； M?1 、 M?2 L→K层；K? 线系； n1 =2，n2 =1； 不同元素具有自己的特征谱线 ——定性基础； 谱线强度——定量； 衍射分析采用 是衍射分析的背底; 是医学采用的 仅在特定波长处有特别强的强度峰 谱图特征:强度随波长连续变化 高能级电子回跳到低能级多余能量转换成电磁波 特征谱 (硬X射线) 高速运动的粒子能量转换成电磁波 连续谱 (软X射线) 1. X射线的吸收 dI0=-I0 ?l dl ?l：线性衰减系数； dI0=-I0 ?m dm ?m：质量衰减系数； dI0=-I0 ?n dn ?n：原子衰减系数； 衰减系数的物理意义：单位路程 (cm)、单位质量(g)、单位截面(cm2) 遇到一个原子时，强度的相对变化（衰减）；