用X射线荧光分析技术甄别金制品与镀、包金赝品.pdfVIP

　第 31 卷第 2 期 原 子 能 科 学 技 术 . 31, . 2 V o l N o 　1997 年 3 月 A tom ic Energy Science and T echno logy M ar. 1997 用 X 射线荧光分析技术 甄别金制品和镀、包金赝品 邓艳丽　刘宝生　李卫华　刘际时 ( 中国原子能科学研究院核技术应用所, 北京, 102413) 从理论上阐述了把 X 射线荧光分析和低能伽玛射线散射结合起来甄别金制品和镀、包金赝品 的可行性, 并在实验中进行了验证。这一方法适用于镀、包层厚度在 70 m 以下的各种重金属覆盖 样品。 关键词　 射线荧光分析　低能伽玛散射　金制品　镀、包金赝品 X 在金制品成色测定过程中往往会遇到镀、包金赝品。目前国内市场上销售的各种 X 射线 荧光分析黄金成色仪, 由于其技术基础都是对各元素受激特征X 辐射谱线强度进行“闭环法” 处理, 实际上是不能判别金制品和镀、包金赝品的。 本文在源激发 X 射线荧光分析的基础上, 提出用“闭环法”结合康普顿散射和瑞利散射强 度进行综合数据处理来可靠地甄别金制品和镀、包金赝品。 1　原理 11　受激 X 射线荧光分析的基本公式 ) 1 在多能放射源的照射下, 探测器探测到的多元素样品中 元素、能量为 的受激特征 i E y, i X 辐射的强度为 ( ) ( ) S E y, i i = 1 2 E y, i I j ∑ j x (E ) W 　　　　 i p x , j i i 1 - exp [- d x ( ( ) + ( ) ) ( ) ∑ q E x , j q E y, i q ] 1 ( ( ) ( ) ) x q E x , j q + E y, i q q ∑ q 这里 为样品对放射源所张的立体角, 为探测器对样品所张的立体角, ( ) 为探测 1 2 E y, i 器对能量为 的射线的探测效率, 和 分别为样品中 元素和 元素的含量, 、 为放 E y, i x i x q i q E x , j I j 射源出射的第 条射线的能量和强度, p ( x , j ) 和 ( x , j ) q 分别