第六章 X射线衍射方法.pptVIP

第六章 X射线衍射方法 德拜法（德拜-谢乐法） 照相法 聚焦法 多晶体衍射方法 针孔法 衍射仪法 劳埃（Laue）法 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪 第一节 多晶体衍射方法 一、（粉末）照相法 （粉末）照相法以光源（X射线管）发出的单色光（特征X射线，一般为K?射线）照射（粉末）多晶体（圆柱形）样品，用底片记录产生的衍射线。 用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德拜（Debye）法； 用平板底片记录者称为针孔法。 较早的X射线衍射分析多采用照相法，而德拜法是常用的照相法，一般称照相法即指德拜法，德拜法照相装置称德拜相机 德拜相机构造示意图 德拜法的衍射花样 样品制备 粉末样品制备一般经过粉碎（韧性材料用挫刀挫）、研磨、过筛（250-325目）等过程，最后粘接为细圆柱状（直径0.2~0.8mm左右），长度约为10~15mm。 经研磨后的韧性材料粉末应在真空或保护气氛下退火，以清除加工应力。 底片的安装 德拜相机底片安装方法 （a）正装法 （b）反装法 （c）偏装法 衍射花样的测量和计算 主要是通过测量底片上衍射线条的相对位置计算?角（并确定各衍射线条的相对强度）。（HKL）衍射弧对与其?角的关系如下图所示。 衍射弧对与?角的关系 若?用角度表示 对于背反射区（2?90?），有2L?＝R·4?（?为弧度）。 若?用角度表示，则有 式中，?＝90?－?。 当相机直径2R＝57.3mm时，由上述二式有 应用上述各式计算?时，?值受相机半径误差和底片收缩误差等的影响。 衍射花样指数标定 衍射花样指数标定，即确定衍射花样中各线条(弧对)相应晶面(即产生该衍射线条的晶面)的干涉指数，并以之标识衍射线条，又称衍射花样指数化。 立方晶系衍射花样指数标定 由立方系晶面间距公式[ ]与布拉格方程，可得 m——衍射晶面干涉指数平方和，即 对于同一底片同一(物)相各衍射线条的sin2?(从小到大的)顺序比(因?2/4a2为常数)等于各线条相应晶面干涉指数平方和(m)的顺序比，即 立方系不同结构类型晶体因系统消光规律不同，其产生衍射各晶面的m顺序比也各不相同。 立方晶系衍射晶面及其干涉指数平方和(m) 二、 衍射仪法 X射线(多晶体)衍射仪是以特征X射线照射多晶体样品，并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。 由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成，现代X射线衍射仪还包括控制操作和运行软件的计算机系统。 X射线衍射仪成像原理(厄瓦尔德图解)与照相法相同，但记录方式及相应获得的衍射花样[强度(I)对位置(2?)的分布(I－2?曲线)]不同。 衍射仪采用的具有一定发散度的入射线，也因“同一圆周上的同弧圆周角相等”而聚焦，与聚焦(照相)法不同的是，其聚焦圆半径随2?变化而变化。 X射线测角仪 测角仪是X射线衍射仪的核心部分 。 X射线测角仪结构示意图 C-计数管 D-样品 E-支架 F-接收(狭缝)光栏 G-大转盘(测角仪圆) H-样品台 M-入射光栏 O-测角仪中心 S-管靶焦斑 辐射探测器 作用是接收样品衍射线(光子)信号转变为电(瞬时脉冲)信号。 正比计数器 盖革计数器 闪烁计数器 闪烁计数器与正比计数器是目前使用最为普遍的计数器。 要求定量关系较为准确的情况下习惯使用正比计数器，盖革计数器的使用已逐渐减少。 除此以外，还有锂漂移硅计数器、位能正比计数器等。 辐射测量电路 辐射测量电路是保证辐射探测器能有最佳状态的输出电(脉冲)信号，作者能够直观读取或记录数值的电子学电路 。 计数测量方法与测量参数选择 多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种。 连续扫描法：将计数器与计数率仪相连接，在选定的2?角范围内。计数器以一定的扫描速度与样品(台)联动扫描测量各衍射角相应的衍射强度，结果获得I－2?曲线。 连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般