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核电子学与 中国核科学技术进展报告第二卷 核探测技术分卷 年 月 活度测量方法研究 郑艳明汪建清吴永乐姚顺和杨巧玲 中国原子能科学研究院北京 摘要本文介绍了正电子发射核素 活度测量方法 衰变方式包括 的 衰变和 的 衰变 衰变子体 发射的特性 射线和俄歇电子能量均在 以下由于源的自吸收即使做成 薄膜源也难以 被正比计数器探测到另外由于湮灭光子的存在符合相加效应造成了 峰计数率的损失这两个因素在 很大程度上影响活度测量的准确性实验分别采用 效率外推法和在正比计数器与 探测器之间加铅吸收片从而 改变 效率外推的方法进行测量 效率外推时使用 叠加峰作为 窗口需要进行 分支比修正第二种 方法保持 效率固定将符合相加峰的探测效率外推到 就可以准确得到源的活度两种方法测量结果的不确定度 分别为 和 关键词 符合相加 效率外推 效率外推 是一个重要的正电子衰变核素主要通过 或者 核反应生产该 核素 的衰变方式比较简单半衰期大约为 它广泛应用于正电子发射标准正电子束化 学研究和核医学中等设备成像质量控制等方面另外它还是电离辐射计量量值传递中 谱仪 能量效率刻度的重要核素其衰变产生的 的 射线常用来刻度 谱仪因而准 确测量其活度并确定主要 射线的发射几率具有十分重要的意义 原理 衰变纲图及特点