面向层析测量的特征模型反求系统.pdfVIP

维普资讯 模 具 技 术 201)2NO3 9 文章编号：1001—4934{2002)03—0009—04 面向层析测量的特征模型反求系统 亓利伟 ，冯淑敏 ，赵 毅 ，李明辉 (1．上海交通大学 模具CAD国家工程研究中心，上海 200030 2．上海应用技术学院 机械系，上海 200233) 摘 要：针对断层测量反求，提出了基于物体基本结构和特征的轮廓分割算法。新算法具有 分割效率高、分割准确的优点。断层测量截面方位的不同使得同一特征的截面形状具有 多样 性，给特征参数的识别造成很大困难。为了解决这一问题，提出时分割后的特征结构轮廓集进 行 “二次虚拟层切”的方法，使特定特征类型的截面形状固定下来，大大降低了特征参数识别的 难度。系统可以获得反求零件的参数化CAD模型，使得对重构摸型的方便修改成为现实。 关键词：断层测量；反求工程；分割；特征抽取；参数识别 中图分类号 ：TP391 文献标识码 ：A Abstract：Forlayer—measuringbasedreverseengineering(RE)，analgorithmcansegmentrnea— suredcontourintogroupsaccordingtodifferent~ructureandfeaturespreciselyandefficiently，is presented W hen theorientationnfthemeasuringsectionischanged．thecross-sectionsofone featurewilltakeondifferentshapes．Thismakesitverydifficulttoidentifycertainfaeture’Spa． rameters．Ihenonetechniquecalled “re—slice”isputforwarded．Byapplyingthistcehnology． onefaeturewillhaveuniqueem~-seetionalshape．Inaddition，oursystem Cna acquiretheparam— eterizedCAD modelofthetreatedpart，whichmakes itpossibleof modifyingER models． Keywords：layer- t；reverseengineering；segmentation；featureextraction；pararne一 tra identification 现了基于特征的结构参数识别。但所开发的系统 0 引言 无法处理非封闭的轮廓特征 ，且识别的特征类型 有限 和基于外表面测量的反求相 比，断层测量 基于断层测量的反求技术是近几年才 出现 反求具有可测零件复杂内腔表面的优点，但 CAD 的，由测量数据重构 CAD模型的研究报道较少 ， 模型重构研究的滞后限制丁该技术在新产品快速 典型的相关研究有两种 为了区分反求实物的各 开发中的应用 进行基于断层测量的零件 0 组成部分 ，Liu 提 出r一种 “种子轮廓生长法”的 模型重构研究成为当务之急。 轮廓分割技术 ，可 将用户感兴趣的轮廓集分割 出来 ，从而区分物体的不 同几何结构。但该方法 1 系统整体框架 无法获取物体各组成结构 的几何参数 ：当测量断 层数较多时，“种子轮廓生长法”{十算量大 ，轮 分 本研究以被测物体的序列断面轮廓线已被精 割效率低 文献 【：．在由断层测量轮廓序列实现